全自动表面光洁度检查与新的调查选项来自英国

英国增加了一个新的探测器选择革命REVO五轴测量系统,它第一次允许将表面光洁度检查完全集成在CMM测量程序。

测量能力的6.3到0.05 Ra, SFP1只能表面光洁度探针提供了一个独特的“单一平台”,将消除需要手持传感器,或必要性部分移动到昂贵的专用的表面光洁度测量机器,减少劳动力成本和交货期检查。CMM的用户将可以自动切换部分扫描和表面光洁度测量,分析所有包含在一个测量报告。

高质量的表面光洁度的数据
作为一个完全集成的选择了五轴测量系统,用户SFP1只能表面光洁度探针将受益于一系列强大的功能,将提高检测速度和灵活性。

调查包含了一个C轴,结合无限定位能力的测量头和选择了笔,允许调查提示自动导向任何角度来适应,确保高质量表面数据获取。SFP1只能提供两个专用手写笔,连续SFS-1笔SFS-2调笔,选择使用了完整的测量程序控制系统的模块化架系统(夫人)。这允许灵活的访问组件特性结合全自动数控方法的一致性。

自动化表面光洁度探针校准
校准的传感器也自动和CMM软件内进行计划。一个新的表面光洁度校准加工品(SFA)是安装在使用SFP1只能探针测量架和夫人。软件然后调整参数在探针按照人工制品的校准值。

一个滑探测类型2µm(0.000079)齿顶圆角半径金刚石触针,SFP1只能表面光洁度探测器输出Ra, RMS和原始数据格式计量应用程序客户端软件通过英国的UCCServer软件使用i++测距装置协议。原始数据随后可以提交给专家表面分析软件包进行进一步的详细报告。