微电子失败分析的主要事件社区返回圣何塞，以帮助工程师和技术人员确定缺陷，这些缺陷使制造商的组件，维修和更换的失败组件，数百万美元。
第35届国际测试和失败分析研讨会（ISTFA）将于11月15日至19日在圣何塞的麦克纳里会议中心举行。该活动由电子设备故障分析协会（EDFAS）组织，ASM国际，材料信息协亚博网站下载会。
哈佛大学纳米级系统中心的首席工程师尼古拉斯·安东尼乌（Nicholas Antoniou）说：“这全都与解决方案有关，这是我们2009年活动的主题。”“通过我们的技术研讨会，用户群，教育机会和博览会，我们使工程师和技术人员可以识别和解决其微观失败分析问题”
ISTFA组织者已经开发了一个计划，其中包含有用的信息和ISTFA受众的网络机会。关于光伏故障分析的新会议将从国际角度提供宝贵的见解。
Antoniou说：“我们已经准备了40个小时的教程会议，接受了64篇摘要供出版，并已注册了数十家公司，这是我们行业中最大的设备展览。”app亚博体育还将举行有关足总工程师未来的小组讨论。
纽约世界贸易中心建设的结构工程师路易斯·普里托·波特尔（Luis Prieto-Portar）博士将提出一个关于双子塔的失败分析的主题演讲，从他参与其建设的原因到其悲剧性崩溃的原因。
还将举行教育短期课程。主题包括故障隔离，用于故障分析的FIB样本准备，失败分析的财务和管理（原理和应用）以及光伏设备的故障分析。
有关ISTFA 2009的更多信息，请访问www.asminternational.org/istfa。
尽管故障分析是电子行业的关键要素，但它也是电子和材料分析的多种组合。亚博网站下载由于没有现有社会适合满足我们技术界的特定需求，因此在1998年对电子设备进行故障分析进行故障分析的科学家和工程师。www.edfas.org。