CRAIC技术UV显微镜和微分光计的主要制造厂商,高兴地宣布QDI2010QDI2010电影仪表设计用于快速非损耗小微采样区薄膜厚度
亚博网站下载可分析多片透明不透明子串,QDI2010FilmTM使用户能够判定半导体、MEM设备、磁盘驱动器至平板显示器等所有东西薄薄膜厚度与CRAIC技术专有污染成像能力相结合时,QDI2010FilmTM表示向前迈出了一大步,即它专为工业流程设计。
多位客户想测量稀薄薄膜的厚度 大小采样区快速质量控制QDI2010FilmTM微分数计是为了响应客户请求而搭建的,即强软胶片厚度工具,该工具可测量透明不透明子串子段QDI2010FilmTM满足这些需求Paul Martin总统
亚博网站下载完全QDI2010FilpimaTM解决方案将高级微分镜与精密软件合并使用,使用户能够通过传输或反射多类材料和子串测量胶片厚度由于CRAIC技术设计的灵活性,采样区范围从跨100微米到小于一微米不等。设计为制作环境,它包含多项易修改处理配方、创建新电影配方和复杂分析数据工具的能力直接图像分析带紫外线显微镜片的能力也可以添加到此工具中