UVISEL+ RM来自HORIBA科学通过安装在UVISEL测角仪上的一个新的独立反射测量模块(RM)，扩展了UVISEL的能力。低成本RM模块可作为所有现有型号的VISible和NIR UVISEL光谱椭偏振计的一个选择或升级，因为该模块通过两根光纤简单地连接到UVISEL的氙灯和单色仪。
来自HORIBA Scientific的UVISEL光谱椭偏仪
RM允许在具有200μm测量点的波长范围内的正常入射时测量反射率测量，并通过200μm测量点，通过椭圆形测量仪的集成和反射率UVisel + RM能够灵活准确地测量：
- 单层和多层膜厚度为1Å ~ 30µm，
- 材料的光学性质(n, k， α)亚博网站下载
- 样品反射率的直接光谱测量
- 精确描述薄膜堆栈的界面，粗糙度，不均匀性…
使用DeltaPsi2采集系统，UVISEL+ RM操作简单，得益于该软件的大型材料数据库和强大的分析功能。亚博网站下载对于比较困难的应用，可以结合椭偏法和反射法测量来分析样品。
UVISEL+ RM是一个灵活的光谱计量平台，是光伏、显示、光学涂层和表面处理应用的理想选择。