精密设备如平面显示器、MEMS设备以及定型半导体等有机和无机污染物往往难以检测。亚博网站下载许多污染物材料基本上不为光学显微镜等常用分析技术所见
CRAIC技术2010QDI
CRAIC技术公司面向应用微分析解决方案的全球领先者提供用单工具检测和分析微量污染物的能力CRAIC技术QDI2010TM微分解仪中两种紫外微分解综合装配可选QDIimageUVTM包
亚博网站下载多有机无机材料吸收紫外线区域光线,但肉眼不可见这就意味着标准光学显微镜无法检测这些污染物,也无法分析这些污染物。虽有其他技术可用,但需要大量采样准备并可能损害采样通过使用紫外线微映射,用户能够快速、易易非损多污染物定位UV微光谱分析后可测量污染物电子光谱特征以识别它光谱还可用于通过判定最大吸收波长进一步提高污染物图像清晰度亚博网站下载通过QDI2010TM微分量计中的两种技术组合,用户很容易查找并识别平板显示器、半导体芯片、MEMS甚至微流化设备中的污染物材料QDI2010TM微分光计是有史以来第一个将紫外线显微镜和微分光镜合并成单工具的系统还可以升级紫外线可见近红外反射、传输和荧光显微镜和微谱镜