视频| MRS 2008秋季会议视频采访

2008年秋季会议录像及采访录像

2008年秋季会议录像及采访录像

Smart SPM/AFM from AIST-NT - Ease of Use演示

来自AIST- nt的Marshall Bates和Andrey Krayev演示了AIST SmartSPM/AFM的易用性。在原子分辨率下,从装样到开始测量只需1-2分钟

演示了Nanosurf easyScan2 FlexAFM的易用性

来自Nanosurf的Ola Modinger向我们介绍了他们的easyScan2 FlexAFM,该产品是在2008年MRS秋季会议上发布的,在那里录制了这次采访。然后我们演示了这个仪器操作起来有多容易。

开尔文探针是如何工作的

KP Technology的Iain D. Baikie教授解释了开尔文探针的工作原理。

NTEGRA Aura SPM平台来自NT-MDT -关键功能

NT-MDT NTEGRA Aura系统是一个多功能的SPM平台,可以通过多种方式进行修改,以适应各种样品类型以及采取不同类型的测量。

CSM TTX台式纳米压痕仪的演示

CSM TTX台式仪器是一款高性能纳米压痕测试仪(NHT),体积小,使用简单。它适用于不需要完整平台配置的常规纳米压痕测试。

安捷伦G200纳米压头的关键功能和能力

纳米压头G200是最先进的平台,探索材料的性质在纳米和微尺度。

用于测量液体介电特性的便携式网络分析仪

安捷伦技术公司的Shelley Begley演示了他们用于测定液体介电特性的便携式系统。该系统以便携式网络分析仪为中心,可用于测量介电常数和损耗正切等特性。

安捷伦5600大阶段AFM的特点和能力

安捷伦5600LS采用了一个完全可寻址的200mm x 200mm级和一个新的低噪声AFM设计。

10GHz分离圆筒谐振器介电特性测量-安捷伦技术

安捷伦技术公司的Shelley Begley演示了10GHz分裂柱体谐振器是如何测量低损耗材料、薄膜和衬底的介电特性的。亚博网站下载

NT-MDT中SOLVER NEXT SPM/AFM的关键特性和操作

这个简短的视频展示了NT-MDT的SOLVER NEXT SPM/AFM的关键功能和易于操作。它的设计使经验有限的操作人员可以进行质量测量。

Agilent Technologies公司的accuizer 780激光衍射粒度分析仪

Agilent Technologies的accuizer 780是一个激光衍射粒度分析仪,测量单个颗粒的大小,以产生高精度的粒度分布

安捷伦7020 Zetaprobe的关键特性和功能

安捷伦7020 Zetaprobe测量悬液的zeta电位。它可以满足高固体负荷的样品,这可以消除稀释样品的需要。

纳米冲浪easyScan2 FlexAFM -关键功能

来自Nanosurf的Ola Modinger指出了他们在2008年MRS秋季会议上发布的easyScan2 FlexAFM的一些关键特性,在那里录制了这次采访。

超高真空开尔文探针的KP技术

来自KP科技的Iain D. Baikie教授向我们展示了他们的超高真空开尔文探测器。它用于测量样品表面的变化,如由于温度变化而使用涂层时的情况,并可适用于半导体。

XOS改进XRF和XRD分析的光学系统

XOS制造多毛细管光学和双弯曲晶体光学。它们被用于x射线荧光、XRF(波长色散和能量色散,WDXRF和EDXRF系统)以及x射线衍射XRD系统,这些系统在材料分析中被广泛应用。亚博网站下载这些光学系统的加入使仪器能够以更大的灵敏度分析较小的特征

CSM仪器公司的Revetest Xpress划痕测试仪演示

该REVETEST Xpress是一个成本有效的解决方案,工业和质量控制(QC)应用。该仪器提供了测量附着力,硬度和抗划痕性与非常友好,易于理解的界面。

维科公司的尺寸V AFM/纳米机械测试仪-关键功能和操作

Veeco的Dimension V结合了原子力显微镜(AFM)和纳米力学测试仪。这是使用一个专门设计的探针来实现的。它能够测量诸如刚度、粘附和能量耗散等特性,并提供AFM的成像能力。

来自Anasys仪器的VESTA局部热分析系统演示

Anasys Instruments产品开发副总裁Kevin Kjoller演示了VESTA本地化热分析系统的使用是多么容易。

CSM仪器的万能纳米压痕测试平台演示

Nanoindenation平台是一个通用系统,有两种配置,允许您根据自己的特定需求定制设备。您可以合并各种测试模块,如:纳米和微压痕;纳米和microscratc;和微/ nanoscratch。您还可以选择成像系统suc:视频显微镜;AFM;或表面光度仪。

扫描开尔文探针从KP技术-操作和能力

KP Technology的Iain D. Baikie教授向我们介绍了扫描开尔文探针,它测量振动尖端和样品之间的功函数差。它适用于分析金属、电子设备、带图案的晶圆片、太阳能电池等,并能实现与AFM类似的功能

Ambios技术Q-View SPM/干涉仪-功能

来自Ambios Technology的Rick Olds通过Q-View向我们展示。Q-View结合了扫描探针显微镜(SPM)和干涉仪,可用于在较小和较大的区域进行表面粗糙度和形貌测量。

来自庇护研究的密码AFM -关键功能和能力

来自庇护研究的Cypher AFM是在过去十年中发布的最具革命性的小样本AFM。它的特点是一个环境室,高分辨率扫描仪提供亚埃分辨率和快速成像多亏了小悬臂。

Veeco Dektak 150表面轮廓仪-关键功能

Veeco公司的Dektak 150 Surface Profilometer采用手写轮廓术技术,这是表面形貌测量的公认标准。

安捷伦公司的Nicomp 380 ZLS粒径和Zeta电位分析仪

颗粒大小由动态光散射或DLS决定,而Nicomp 380 ZLS可以测量从几纳米到微米的颗粒。yabo214