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来自HORIBA的Mark Bumiller为我们展示了他们的新成员,SZ-100,纳米粒度分析仪/表征系统。它适用于分析亚微米范围内的颗粒。SZ-100使用动态光散射(DLS)技术观察布朗运动来测量颗粒大小。yabo214
它还能够测量zeta电位、分子量和第二维里系数。
SZ-100适用于以下材料:亚博网站下载
运行时间-4:40分钟
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