使用Bruker Nano的AcuityXR技术从光学剖面中提高了分辨率的演示

克里斯·奥尔苏拉克(Chris Orsulak)布鲁克指出Contourgt光学剖面的主要功能,并简要描述其工作原理。他还向我们展示了如何在很短的时间范围内进行测量以及新的AcuityXR测量模式(在2010年秋季MRS会议上引入)如何由于横向分辨率的增加而产生改进的结果。

运行时间-4:13分钟

Bruker Contourgt光学剖面的演示

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