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使用Topmap表面计量学的质量控制 - 使用QC包装控制您的过程

使用Topmap表面计量学的质量控制 - 使用QC包装控制您的过程

Topmap光学表面剖面介质的QC软件包为工业精确制造提供了智能质量控制解决方案。在3D中测量精度表面,无需接触并可靠地确定表面参数,例如平坦,步进高度,波浪和粗糙度。带有集成条形码扫描仪的负载测量设置,并借助预定义的测量配方轻松管理不同的样本类型。比较和同步全球标准化的测量设置。电动倾斜单元确保始终具有您的面积表面地形测量的最佳视角。有关更多信息,请访问https://www.polytec.com/qc-package

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