PI的MIQA系统概述

在此视频中,Tim Naumann来自PI的工程系统解释了MIQA系统的显微镜,断层扫描和层状系统。独特的系统由Karlsruhe Institute的Anka(AngströmquelleKarlsruhe)组成,该系统由Anka(AngströmquelleKarlsruhe)使用。MIQA系统将用于X射线光学元件和X射线显微镜的光束线的资格。定制也是可能的。

运行时间-2:54分钟

多轴阶段:56轴,20吨纳米定位阶段|X射线显微镜,断层扫描,层压扫描

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