KP Technologies的扫描开尔文探测器 - 操作和功能

Prof. Iain D. Baikie fromKP Technology向我们介绍了扫描开尔文探针,该探针测量了振动尖端和样品之间的功能差异。它适合分析金属,电子设备,图案化的晶圆,太阳能电池等事物,并可以执行与AFM相似的功能。

Thw Scanning Kelvin Probe can be used for corrosion studies, polymer films enc electronics and other materials analysis. It is able to detect films as thin as a molecule thick and can create detailed 3-D maps of a sample surface.

这是一种使用的技巧,并且需要进行非常快速的测量。

KP技术的扫描开尔文探测器

Run time - 3:40 min

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