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超高真空开尔文探针的KP技术

Iain D. Baikie教授KP技术向我们展示了他们的超高真空开尔文探测器。它用于测量样品表面的变化，如由于温度变化而使用涂层时的情况，并可适用于半导体。

特高压开尔文探头

播放时间:1:17分钟

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