发表在|亚博网站下载材料测试和表征|2008年秋季会议视频采访

Ambios Technology Q-View SPM/干涉仪 - 功能

里克·奥尔德斯（Rick Olds）Ambios技术通过Q视图向我们展示。结合了可互换的扫描探针（SPM）和干涉仪的Q视图。

Q视图使用一个提供声学和振动绝缘的隔离室。它还允许使用干涉法或更高的精度测量在较大的区域上测量表面粗糙度。

Ambios Technology的Q视图 - 功能和功能

运行时间：3：46分钟

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