晶片测绘系统

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作为当今半导体制造过程中最常用的数据分析工具之一,晶圆映射软件能够计算出成品率损失的原因,并识别出影响半导体器件成品率的操作功能效率。晶圆映射,或基板映射,是一种过程,半导体器件的性能在基板表面是通过生产彩色编码网格可视化。颜色编码网格上的数值可以用来分析任何可能直接影响半导体晶片成品率的偏差原因,从而对生产过程进行改进。

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