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原子力显微镜（AFM）

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原子力显微镜基本上扫描样品的表面，提供纳米级信息。AFM利用悬臂具有非常尖锐的尖端来扫描样品。当尖端接近样品外部时，样品和尖端之间的吸引力导致悬臂在表面方向上偏转。然而，随着悬臂更接近，使得尖端与其接触，因此排斥压力将悬臂偏转远离样品。激光束用于识别悬臂偏转朝向或远离外部。通过在悬臂的顶部撞击入射光束，任何悬臂偏转都会在反射光束的方向上略微换档。位置敏感的光电二极管（PSPD）用于遵循激光束方向上的这些微小的变化。

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