FT-NIR光谱仪 - BRUKER光学的矩阵-F

获奖者矩阵-F是红外(FT-NIR)光谱仪附近最近的傅里叶变换之一。矩阵-F是所有FT-NIR需要的总解决方案,从原料识别到成品的质量控制。内置和外部多路复用器选项允许使用单个仪器监控多达48个反应。除了粉末和颗粒之外,还提供了广泛的探针改编,用于确定乳液和液体中的分析浓度。

显著特征

FT-NIR光谱仪-MATRIX-F的显著特点是:

  • 这是第一个工业加固FT-NIR系统,可直接承受恶劣环境。
  • 精密的光学元件被整合到仪器中,以获得卓越的稳定性和灵敏度,所有这些都在一个紧凑的封装中。
  • 其新颖的设计提供了可靠的高质量结果、最少的停机时间、直接的方法传输以及新应用的可能性,而这些新应用是精度和灵敏度较低的仪器无法实现的。
  • 此外,同样的仪器可以在实验室和工厂环境中使用,当所开发的技术准备用于工业规模时,无需使用新仪器。
  • MATRIX-F及其外围设备是单独封装的模块,可轻松安装到标准的19英寸机架和机箱中。由于模块可作为独立单元使用或安装在单个外壳中,因此过程控制系统可完全定制。
  • 矩阵-F保证高一致性和易于维护。
  • 单个耗材部件安装在预先对准的支架上,用户可以快速更换,而无需重新校准光学元件。
  • 所有消耗品和电子产品都放置在单独的隔间中,因此可以在不干扰密封干燥光学区域的情况下进行更换。
  • 在线诊断监控电子设备和其他消耗品的性能,并在任何部件工作不正常时通知用户。
  • 使用Bruker Optics仪器测试软件和内置内部验证装置,点击按钮即可验证仪器性能,确保整个系统正常运行。
  • 提供快速维修,确保制造过程不会中断。
矩阵-F |布鲁克光学|演示

矩阵-F

MATRIX-F系统有几个选项:

  • 矩阵-F。
    具有光纤耦合的FT-NIR光谱仪,可适应多达6个固体和液体探针。
  • 矩阵-F发射。
    MATRIX-F光谱仪的特殊版本,用于将光纤耦合测量头适配为非接触测量(Q-410/A和Q-412/A)。
  • 矩阵-f双工。
    扩展MATRIX-F FT-NIR光谱仪,用于同时适配光纤探头和光纤耦合测量头。

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