TEM包括XFlash QUANTAX EDS®7 t,最新一代的EDS探测器从力量纳米分析。
- 80 keV能量上限——识别和量化所有元素
- 1一个稳定的决议与漂移修正周期性结构的映射,如原子层,在纳米尺度上
- 3强大的TEM量化方法,以适应不同的应用程序——理论和实验Cliff-Lorimer因素以及Zeta-factor插值
QUANTAX EDS对TEM系统收集光谱最大收集和起飞角的快速和高度敏感的数据采集,允许用户获得最大吞吐量。系统避免了任何机械和电磁干扰,倾斜的标本,和最小化跟踪系统的峰值,收集到的数据是干净的,需要很少或根本没有收购后修正。此外,一个增强的漂移校正特性允许高分辨率纳米测量使用快速和稳定的探测器被迅速的阶段。
的XFlash®7 t有一款超薄的线性设计和几何优化为每个法兰类型和显微镜极片,帮助为用户提供最佳配置的测量。
领域的力量的建立背景EDS其实量化方法有助于确保明确的结果与批处理的自动化数据收集或使用API集合选择特定的测量。时间分辨数据收集也是可能的现场实验与数据,随着时间的变化,如温度增加实验。
纳米分析EDS团队力量的专家将帮助确保探测器和显微镜(TEM、茎或T-SEM)配置为每个用户的应用程序。培训也可以确保用户可以运行系统提供其全部潜力。
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精灵软件
QUANTAX EDS对TEM使用精灵软件的收集、数据的处理和解释。
- 量化步骤选项包括默认的建议简单使用,个人设置,深入调整,并保存/重新加载的方法。
- 三个不同的量化方法覆盖所有可能性:理论和实验Cliff-Lorimer因素,Zeta-factors, Zeta-factors的估计。
- TEM-specific高能元素线超过40 keV包括确保明确的结论。
- 选择三个EDS背景模型,包括数学模型、物理模型厚的薄片,和散装材料的物理模型。亚博网站下载
- Cliff-Lorimer测量包括预设吸收校正。