的QUANTAX SEM, EDS系统FIB-SEM和电子探针配备快速、准确和可靠的XFlash吗®7探测器-允许用户快速、准确地进行元素分析样品,如先进材料、矿物质、电子元件和更多。亚博网站下载
- 达成一项无与伦比的分析中1000000 kps
- 获得一个完整的原子的数据库超过2200的基本线量化即使是最复杂的数据
- 收集数据的最大可用立体角,老> 1.1,由于优化几何
的XFlash®7 EDS探测器系列提供最大的立体角x射线和最高的吞吐量,设置标准的扫描电子显微镜(SEM),聚焦离子束(FIB-SEM)和电子探针显微分析(电子探针)。
探测器的能量分辨率帮助用户获得最高的光谱性能优越。
除了标准EDS XFlash探测器®FlatQUAD也是可用的,非常适合分析beam-sensitive样品样本和生物材料等。亚博网站下载的XFlash®FlatQUAD允许测量keV低,低电子束电流促进准确的,高分辨率的元素的映射的样本。
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元素分析的效率
- 无缝集成的四种分析方法- EDS,改进算法,EBSD, micro-XRF SEM - ESPRIT的软件套件
- 检测的小元素量较低的检出限
- 受益于准确和可靠的量化结果与优化几何减少背景噪音和帮助避免不必要的吸收。
- 获得非常精确的结果与单独优化EDS系统更快,确保无与伦比的速度和精度。
- 缩短测量时间和最大化吞吐量,使映射和量化设置没有数据大小的限制。
XFlash 7 -最新的EDS探测器系列电子显微镜
视频来源:力量纳米分析