QUADRO是DECRIS混合式辐射硬电子检测器,使用户能够集中采样而不是摄像头
QUADRO®直接电子检测器以混合像素技术为基础并装配DECTRIS签名即时重试、免噪获取和连续读出
DECTRISQUADRO检测器可以高计率计算每一电子数(最高达1,000万el/s/pix)并保证收集更精确数据
由于QUADRO极高动态范围,实验搭建不需要波束阻塞器允许用户获取连续分片模式
特征加上QUADRO检测器敏感速度变换方法,如电子成像法、线程成像法、微电子反射法和线程学法
- 高效度:QUADRO检测器快速读出芯片与硅传感器素相融合,提供合适的量子效率探查,即使能量低
- 易:QUADRO检测器与串行EM完全匹配应用编程接口允许直接整合到任何显微镜应用平台
- 辐射硬件:QUADRO检测器不需要波束阻塞器允许用户收集所有数据而不侵入
检测器规范
出处:Decitris有限公司
| . |
. |
| 数像素(WxH) |
512x512 |
| 活动区 (WxH) [mm2] |
38.4x38.4 |
| 像素大小(WxH) |
75x75 |
| 传感器素材 |
硅西 |
| 能量范围 |
30-200 |
| 框架速率(最大值) |
2 250位数(16位数)4500(8位元) |
| 框架速率(ROI最大.) |
九千元(16比特)1.8万位数 |
| 计数率(最大值) [el/s/像素] |
107 |
| 量子效率警探DQE0 |
0.9对100kV,0.8对200kV |
| 检测器安装 |
底置轴 |
所有规范都可修改而无需通知
综合解决方案
DECTISQUADRO检测器可编入电子显微镜仪
ELDICO科学电解分解仪
独家电子分解仪允许晶体绘制者更快解析关键结构数据,并实现更高质量经济
NanoMegas顶级SPIN斯特兰应用
TopSPINStrain比较同一晶状样本中松散和松散区域,将分解电解图解并测试分解模式
ESCAN四维站
TENSOR最近推出完全集成预分解STEM核心能力扫描分片成像,通过混合像素直接电子检测器DECTRISQUADRO的敏感度和速度提高-之和
案例研究
图像信用度 :Decris有限公司
在他的研究中 博士TimGruene检验电子分解假想使用混合像素电子检测器快速识别结构
出版物:《快速结构测定微晶体复合物使用电解分片安格万特切米2018年10月
技术类
微电阻
图像信用度 :Decris有限公司
用户可使用直接电子检测快速获取高质量微ED数据,并结合DECTRIS辐射强度和高动态电子检测器
四维扫描传输电子显微镜
图像信用度 :Decris有限公司
用户可收集4DSTEM最大质量数据,并使用DECTRIS精确可靠电子计数检测器