优秀4 d-stem性能和无与伦比的可用性,TESCAN张量是世界上第一个完全集成分析4 d-stem,而设计的多通道纳米形态分类,化学和结构性能的功能材料,薄膜,合成粒子。亚博网站下载yabo214
特性
- 4 d-stem接近实时的数据分析和处理
- 一个新的展望阻止用户体验
- 同步与衍射成像扫描,收购EDS和梁消隐
- 电子束岁差和near-UHV增强性能
分析4 d-stem
电子Beam-Specimen交互的全貌
真正的纳米尺度、多通道特性的材料属性如形态、化学和结构4 d-stem是首选显微镜技术。TESCAN张量快速且无误地同步的衍射图案和EDS频谱在茎中的每个像素的数据集。
整个电子衍射和光谱学数据一起封装beam-specimen互动,从范围广泛的材料属性可以派生。
附近4 d-stem数据的实时分析和处理
探索——张量的综合平台,实时处理和分析大型扫描电子衍射数据集——TESCAN张量是一个独特的特点。
无需专业知识的茎光学4 d-stem数据分析,或后处理,探索使4 d-stem测量访问材料科学家、半导体研究人员和晶体学家们。
对于每一个杆或4 d-stem测量,高级用户可以选择自定义预设优化的光学特性。
此外,高级用户谁想要创建自己的4 d-stem测量可以使用开源计算平台像HyperSpy LiberTEM或Py4DSTEM 4 d-stem与虚拟杆测量获得的数据兼容。
分化4 d-stem性能
超快和准确的同步扫描(直接)电子衍射成像,EDS收购,电子束旋进,梁消隐,和获得数据的实时分析和处理支持TESCAN张量的4 d-stem功能的性能。
这是通过将先进的工具和方法”的:“
- 旋进电子衍射(PED)
- 4 d-stem实时分析与处理(探索)
- 混合像素,直接电子检测(d)
- 大立体角,对称,window-less EDS
- 样地内Near-Ultra高真空(near-UHV)
- 快,集成光束消隐
TESCAN张量:干细胞一样容易使用SEM
TEM的发明之前,科学家,工程师,技术人员和学生期望的TEM马上解决方案,可以使用不需要数周或数月的培训无效的电子光学调整和对齐。
与TESCAN张量,用户可以与他们的样品在使用光学显微镜,而不是担心。这是通过投入实践“测量”,预设光学特征如电子束电流、收敛角,光斑大小,旋进或关闭自动调整和对齐。
最终的结果是一个分析4 d-stem一样简单易用TESCAN sem和所有的生产力和金融优势的不达目的誓不罢休的电子显微镜。
这种策略也可以提供金融优势,比如改进的工具可用性对于没有经验的用户和更高的投资回报率。