JEM-F200“ F2”多功能分析S/TEM具有冷场发射枪和双硅漂移探测器，使其成为同类中唯一的高级分析，高吞吐量200kV S/TEM。“ F2”是一种易于使用的，非常稳定的高分辨率成像和分析性的200kV TEM，结合了最新的JEOL进步。
F2是具有具有复杂功能的多功能工作强度系统，没有其他不可纠正的S/TEM可以匹配。
由于冷FEG和Twin EDS探测器的探针电流增加，F2是高性能的分析S/TEM。下一代JEOL冷果酒提供了高能量精度电子损失光谱（EEL），以快速检测化学键合态，这要归功于其高亮度/窄能量。
为了进行X射线分析，双硅漂移检测器（SDD）提供了最高的灵敏度和吞吐量。De-Scan还用于新的高级扫描系统中，以完成宽场干eels光谱成像。
F2配备了四边形透镜冷凝器系统，可独立控制电子束强度（点尺寸）和收敛角。
在未播放的S/TEM中，F2也更容易操作，具有比以往任何时候都更高的适应性和能力。在触摸按钮时，可以选择100多个梁条件，并且可以简单地召回以前的设置。ECO选项减少了所使用的能量量。
Specporter是一种独特的自动样品持有器传输设备，使加载样品比以往任何时候都更加容易。加载后，PICOSTAGE以0.5 nm的步骤执行准确的高速样品运动，使操作员可以在从毫米到皮克仪的大空间尺度上平稳调整视场。
主要特征
- 直观有效的操作
- 高级扫描系统
- Specporter是完全自动化的样本持有人转移系统
- 四轮透镜冷凝器系统
- 狭窄能量传播的冷Feg
- PICO舞台驱动器，用于高精度视野运动的超快速运动
- 双硅漂移检测器
JEOL JEM-F200多功能电子显微镜
视频来源：Jeol USA，Inc。