Bruker Scientific-Daltonics的Contourx-500光学科论仪是世界上最广泛的自动化台式机系统，用于快速和非接触式3D表面计量学。具有GAGE能力的Contourx-500运动无与伦比的Z轴分辨率和精确度，并在紧凑的足迹中提供了Bruker的白光干涉法（WLI）落地模型的所有行业认可的好处。
从精密机械表面和半导体过程的QA/QC计量器到眼科和MEMS设备的R＆D表征，探测器很容易为广泛的复杂应用定制。
提示/倾斜光学头
量化表面特征在各个角度范围内，同时最小化跟踪误差。
综合空气隔离
在空间效率的足迹中提供最佳的计量精度。
最高级的用户界面
提供直观的访问预编程过滤器和分析库的库。
特征
专为无与伦比的台式计量学设计
布鲁克（Bruker）的专有尖端/倾斜度为生产设置和检查提供了无与伦比的用户灵活性。通过将自动尖端/倾斜操作与显微镜头中的光路相结合，布鲁克将检查点耦合到视线与倾斜度无关的视线。
这导致较少的操作员干预提供了最大的可重复性。其他硬件功能包括开创性的舞台设计，可实现更大的缝合能力，以及具有1200 x 1000测量阵列的5MP摄像头，可用于更大的视野，较低的噪声和更大的横向分辨率。
此类功能与自动阶段和目标的结合使Contourx-500非常适合“按需” R＆D和工业计量学 - 都在一个小的占地面内。
传统的俯仰阶段设计需要操作员调整五个运动轴，以保持视线的检查点进行测量。头部设计中的独特的布鲁克尖端/倾斜在检查点（无倾斜度）保持视线，以优化的图像获取和最快的数据时间来归纳。图片来源：Bruker Daltonics
精简访问广泛分析
进行了数千种量身定制的分析以及Bruker的用户友好，但强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，Contourx-500在实验室和工厂地板上的生产率提高了。
BRUKER的新通用扫描干涉仪（USI）测量模式提供了自动表面纹理，完全自动化和改进的信号处理，同时提供了正在检查的表面地形的高度准确和现实的计算。
通过从Vision64从多个区域进行直接提取的微流体设备的底通道分析。图片来源：Bruker Daltonics
申请
具有特定溶液的表面无关计量
精密工程
用户可以在紧密规范限制内保留精确工程零件的表面纹理和几何尺寸。具有GAGE能力的测量系统在监视，跟踪和计算过程并评估GD＆T符合时提供了有效的反馈和报告。
图片来源：Bruker Daltonics
mem和传感器
用户可以执行高度可重复的蚀刻深度，高通量，膜厚度，阶跃高度和表面粗糙度测量，以及MEMS和光学MEMS的复杂重要尺寸。
光学分析可以帮助表征整个制造过程中从晶圆到最终测试以及透明包装的设备。
图片来源：Bruker Daltonics
骨科/眼科
对于用户而言，可以通过完整的产品生命周期实现植入物材料和组件的准确测量。亚博网站下载WLI光学剖面辅助R＆D，QA和QC分析的应用，与透镜表面参数和注射模具的表征变化，以表面验证和医疗设备的磨损。
图片来源：Bruker Daltonics
摩擦学
量化，检查和调节摩擦，润滑，磨损和腐蚀对材料或成分性能和寿命的影响。识别定量磨损参数，并在最广泛的光滑，闪亮或坚韧的表面上进行快速通过或失败检查。
图片来源：Bruker Daltonics
半导体
可以通过非接触，自动化，晶圆尺度的计量系统来提高收益率，并可以减少前端和后端制造工艺的费用。执行CMP后的固定性检查；共同性，凸起高度以及缺陷识别和分析；并量化组件结构的重要维度。
图片来源：Bruker Daltonics
光学
用户可以更好地理解缺陷的根本原因，并在精确且可重复的Sub-NM粗糙度测量中改善抛光和完成过程。非接触度量系统允许遵守高度严格的规格和ISO规范。
这是针对从小型和自由形式光学器件到具有复杂几何形状的光学组件到衍射光栅和微胶片的样品。
图片来源：Bruker Daltonics