Bruker Scientific-Daltonics的Contourx-200光学概况仪提供了精致的表征，可定制选项和用户友好性的理想融合，可用于顶级快速，精确且可重复的非接触式3D表面计量学。
具有GAGE能力和紧凑的足迹系统提供了使用较大的FOV 5 MP数码相机和新的机动XY阶段的Nocpromise 2D或3D高分辨率测量能力。
Contourx-200包括Z轴的分辨率和精确度组成，并提供了Bruker专有的白光干涉法（WLI）技术的所有行业认可的好处，而无需限制传统的共聚焦显微镜和竞争对手的标准光学剖面。
自动化功能
启用例程以进行更快的测量和分析。
电动XY阶段
为定量计量学提供低噪声和高速操作。
耐振动的紧凑型设计
提供测量稳定性和具有GAGE能力的可重复性。
特征
不妥协的一流的计量学
Contourx-200，基于40多年的专有WLI创新，可提供低噪声，高速，精度和精度结果，这些结果是定量计量学所需的。
使用多个目标和组合特征识别，可以在一系列观察领域和子纳米垂直分辨率上监视特征，从而在高度多样化的行业中提供质量控制和流程监视应用程序的规模独立成果。
在所有表面情况下，Contourx-200都强大，范围从0.05％到100％的反射率。新的硬件功能包括用于更大缝线能力的创新阶段设计和具有1200x1000测量阵列的5 MP摄像头，可用于更大的视野，较低的噪声和更大的横向分辨率。
WLI为所有目标提供恒定而最终的垂直分辨率。图片来源：布鲁克·道尔顿学
最广泛的应用分析功能
在有效的VisionXpress和Vision64用户界面的帮助下，Contourx-200提供数千种针对实验室和工厂楼层生产率的定制分析。
BRUKER的新通用扫描干涉法（USI）测量模式提供了自动表面纹理，并完全自动化，优化的信号处理，同时提供了正在检查的表面地形的最精确和最现实的计算。新摄像头提供的更大的FOV和新电动XY阶段提供的系统的灵活性可为广泛的样品和零件提供更大的灵活性和更大的吞吐量。
硬件和软件集成提供了简化的光学性能访问权限，从而完全超过了可比较的计量能力。
CONTOURX-200机动阶段。图片来源：布鲁克·道尔顿学
申请
具有特定溶液的表面无关计量
精密工程
用户可以将精确工程零件的表面纹理和几何尺寸保留在紧密的规范范围内。当用户监视，跟踪和计算流程并评估GD＆T符合性时，具有量子能力的测量系统提供了有效的反馈和报告。
图片来源：Bruker Daltonics
mem和传感器
用户可以执行高通量，膜厚度，高度可重复的蚀刻深度，阶跃高度和表面粗糙度测量，以及改进的光学MEM和MEMS的临界维度计量。
光学分析有可能从晶圆到最终测试，甚至通过透明包装来定义整个制造过程中的设备。
图片来源：Bruker Daltonics
骨科/眼科
用户可以通过整个产品生命周期实现对植入物材料和组件的准确测量。亚博网站下载WLI光学剖道仪支持R＆D，QA和QC分析，用于应用，从透镜的表面参数和注射模具的表面表征到表面验证验证和医疗设备的磨损。
图片来源：Bruker Daltonics
摩擦学
检查，量化和管理摩擦，润滑，磨损和腐蚀对寿命和材料/成分性能的影响。查找定量磨损参数，并在光滑，粗糙或闪亮的表面上进行快速通过/失败检查。
图片来源：Bruker Daltonics
半导体
使用非接触，自动化，晶圆尺度的计量系统提高生产率并降低前端和后端制造过程的成本。执行CMP后的固定性检查；共同性，凸起的高度以及缺陷的确定和检查；并量化组件结构的临界维度。
图片来源：Bruker Daltonics
光学
更好地理解缺陷的根本原因，并通过精确且可重复的子NM粗糙度测量来改善抛光和完成过程。非接触度量系统允许与越来越严格的条件和ISO规范达成一致的样品，这些样品的范围从微小的非球体和自由形式光学器件到具有复杂几何形状的光学组件，到微丝和微透镜和衍射光栅。
图片来源：Bruker Daltonics