S/TEM成像的理想优化需要EDX和EEL在不同的加速电压下获取不同的信号。条件可能因一个样本而异。但是,这是广泛接受的:
- 最好的成像以最高的加速电压执行,并越过它会导致可见的损坏。
- EDX,尤其是在映射时,受益于较低电压的电离横截面升高,这会导致指定的总剂量更好的信噪比图。
- 鳗鱼在高压下的性能更好以抑制多个散射,这会影响鳗鱼信号,样品厚度增加。
但是,到目前为止,不可能在同一样品上获取不同的加速电压,而不会丢失感兴趣区域 - 全部在一次显微镜下。
可视化热科学光谱300 s/tem:
- 在单个显微镜会话中,这确实可以在不同的电压(在30至300 kV的情况下(购买对齐))工作
- 从一个加速电压到另一个加速电压的变化需要大约5分钟
- 可以将截然不同的EDX概念带有4.45 SRAD实体角(4.04 SRAD实体角,具有分析性双倾斜架)
新的光谱Ultra S/TEM提供可调节的加速电压,与探针电流的可调节方式非常相似,并且大量的Ultra-X EDX系统允许对传统EDX分析高度敏感的材料进行化学表征。亚博网站下载
Spectra Ultra Fuleration校正的S/TEM为半导体和材料科学应用提供了最佳的一类表征功能,该应用以最高分辨率在广泛的样品中。亚博网站下载亚博老虎机网登录
建立在超稳定的基础上
Spectra Ultra S/TEM出现在一个平台上,旨在通过(可选)主动和被动振动隔离提供无与伦比的机械稳定性和质量。
与Thermo Scientific Spectra 200 S/TEM和Spectra 300 S/TEM相似,Spectra Ultra S/TEM系统被完全重新设计的外壳中容纳,并具有集成的屏幕显示屏,以方便地加载和去除样品。
在具有可变高度的单校正和未校正配置之间,可以首次提供完整的模块化和升级性。这确保了各种房间配置的最大灵活性。
主要特征
- 光谱超级S/TEM的原位功能
- Panther茎检测系统的空前灵敏度
- 提供先进的STEM成像功能
- 最低剂量的茎/EDX以表征更多材料亚博网站下载
- 从更多材料中获取优化结果的最快时间亚博网站下载
- 高能分辨率和高亮度来源
- 提供最高分辨率的STEM成像性能
规格
资料来源:Thermo Fisher科学 - 电子显微镜解决方案
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未纠正 |
- 能量传播:0.2-0.3 eV
- 信息限制:<100 pm
- Stem分辨率:<136 pm
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探针纠正 |
- 能量传播:0.2-0.3 eV
- 信息限制:<100 pm
- Stem分辨率:<50 pm(125 pm @ 30 kV)
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探针+图像校正后的X-feg/Mono |
- 能量传播:0.2-0.3 eV
- 信息限制:<60 pm
- 茎分辨率:<50 pm在300 kV时,探针电流> 30 pa
茎分辨率:<125 pm在30 kV时,探针电流> 20 pa
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探针+图像校正后的X-feg/Ultimono |
- 能量传播:0.05 eV(0.025 ev @ 60 kV)
- 信息限制:<60 pm
- 茎分辨率:<50 pm在300 kV> 30 pa的探针电流
茎分辨率:<125 pm在30 kV时,探针电流> 20 pa
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探针+图像校正了X-CFEG |
- 能量传播:0.4 eV
- 信息限制:<70 pm
- 茎分辨率:<50 pm(<136 pm @ 30 kV),> 100 pa的探针电流
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来源 |
- X-feg单声道:高光泽Schottky田地发射器枪和单色仪,可调能量分辨率范围在1 eV和<0.2 eV之间
- X-feg Ultimono:具有超稳定单色器和加速电压的高光泽肖特基田间发射器枪,可调能量分辨率范围在1 eV和<0.05 eV之间(<0.025 ev @ 60 kV)
- X-CFEG:超高亮度,固有能量分辨率为<0.4 eV,总束电流为14 Na,总束电流为2 na
- 灵活的高压范围从30 - 300 kV
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