用于工业,无损检测和科学应用的T-Ray®5000控制单元

的T-Ray®5000太赫兹控制单元最适合科学应用和工业,无损测试。该系统能够监测和控制太赫兹(THz)产生和检测的所有方面。

控制单元提供精确控制的光信号到太赫兹发射器和接收器,或T-Gauge®传感器头。这使得它们能够产生和接收太赫兹信号。控制单元以1khz的速率处理测量数据,从而产生T-Ray®5000目前最快的太赫兹系统之一。

由T-Gauge产生的数据®传感器头和处理T-Ray®5000控制单元方便同时,多种测量产品。

一个T-Gauge®传感器设计用于一次测量样品的卡尺厚度、基重、密度、多层厚度和水分含量。

的T-Ray®5000控制单元连接到一个独立的发射器和接收器,使得它不仅可以执行光谱测量,而且还可以传输和反射成像。

的T-Ray®5000控制单元和它的附件连接有可靠的连接点和接口,非常适合工业环境。该系统装配有足够的连接,以促进与大多数QC系统或实验应用程序的顺利集成。行业标准接口连接确保易于与t型量规集成®传感器。

应用程序

  • 该控制单元可用于包装食品、飞机、天线罩检测、管道维修和航天器等各个领域的无损材料检测
  • 工业过程控制包括泡沫密度,商业屋面,塑料挤压,涂层厚度和沥青瓦
  • 转换应用包括多层薄膜,纸张涂层和轮胎
  • 该系统的科学应用包括太赫兹成像(透射和反射)和时域光谱学

关键特性

  • 标准显示器和USB连接
  • 内置的数据处理器
  • 紧凑的外壳
  • 为测量控制提供数字输入
  • 是否可与光纤耦合传感器头连接

好处

  • 可以与网络扫描仪和机器人集成吗
  • 安装方便
  • 测量以工程单位提供
  • 为容器边界或数据标记提供的触发器
  • 即使没有专业显示器和键盘也能操作

用于工业,无损检测和科学应用的T-Ray®5000控制单元

图片来源:Ether NDE Ltd。

资料来源:Ether NDE Ltd。

参数 规范 单位 评论
最大测量范围 12,25, 50或100 毫米 会随测量的材料而变化吗
测量速度 100年和1000年 赫兹 由测量范围决定
外部监控连接 VGA
A / D动态范围 16位
工作温度范围 0 - 50°c 20 - 90% RH不结露
当前的需要 < 4 安培 110/240 VAC, 50/60 Hz自感应
尺寸(宽x高x深) 17.5 x 21.5 x 7.5 最小尺寸
重量 18.2 公斤
USB接口 4
以太网端口 3. 2个独立IP地址
数字接口 16 输入和输出
编码器的输入 6 高速

点击这里查询有关太赫兹无损检测技术的更多信息。

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