来自Semilab的200™备忘录允许自动AFM测量，同时保证失败分析，质量保证和质量控制的最低成本，以及最易于使用。
备忘录200™具有开放式设计，可提供空间，同时安装额外的设备，如纳米压缩或光学显微镜。app亚博体育
表现
-
由于DS 95 AFM扫描仪的紧凑设计，确保了出色的稳定性和扫描速率
-
完全数字C-32 SPM控制电子设备提供Spearhead成像控制和反馈性能
使用方便
-
即插即用悬臂交换的特殊选项可确保系统的安全快速运行
-
AFM扫描仪中的合并光轴允许在接近和定位期间完全视觉控制
自动化
-
高精度XY级可以在标本上坐标基础导航
-
基于脚本的测量配方生成允许用户指定的自动测量，并提供成本和较少的测量数据收集
-
额外的光学设备可用于图案识别app亚博体育或替代显微镜模式
使用DS 95 SPM扫描仪系列，Semilab提供性能和易用性的最终组合。DS 95 SPM扫描仪反映了SPM应用程序和制造领域的十年长度体验，以帮助用户在最短的时间内实现最佳，最一致的结果。
200™销议委员会是对散装样本的AFM测量的先进阶段。200™的远程XY译者200™帮助在所有地方分析200毫米标本，在某些样品区域上高达300毫米。
该级可以配备光学参考系统，可根据需要更高的定位精度，以便缺陷审查应用。整个定位进展是高度稳定和完全自动的，使其理想地检查各个样本的各种结构特征，过夜和长期测量运行。
与基于干涉仪的定位系统相比，通过提供类似的性能，投资努力急剧下降。
完全可编程的样品定位允许独立的AFM测量不同的样品位置，自动报告生成和自动图像分析。与高端光学的集成允许AFM检测的自动预选样本位置。
因此，Roberstation200™设置是过程开发和应用，行业质量控制和研发环境的最终解决方案。额外分析设备的OEM或自定义集成的无限制空间为研究应用铺平了道路。app亚博体育
右侧的形貌图显示了氮化镓样品的原子步骤和缺陷。左侧的图形和图像显示了一个截面分析，使确定单个原子步骤的步高。图片信用：半导体半导体物理实验室