Bettersize Instruments的Bettersizer S3 Plus二合一粒度和形状分析仪在一个单一的模型中平滑地集成了激光衍射和自动成像。因此，它不仅可以实现从0.01到3500 μm的广泛尺寸范围，而且还可以检测各种块状材料的所有形状和尺寸参数。亚博网站下载
由于其易于使用的操作模式和可靠的性能，Bettersizer S3 Plus是需要材料表征的研究的完美选择。
Bettersizer S3 Plus 2-In-1粒度和形状分析仪的基本原理
视频资料:Bettersize Instruments Ltd。
特点和优点:
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测量:颗粒大小和颗粒形状
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颗粒形状从2 μ m到3500 μ m不等
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粒径范围为0.01 ~ 3500 μ m
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色散型:湿
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自动折射率测量
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技术:激光衍射+自动成像
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利用3.5毫米的成像技术探测巨大的粒子yabo214
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使用Bettersize的专利双镜头技术:DLOIOS精确测量yabo214小颗粒(从10纳米)
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易于执行，制作和使用新材料的标准操作程序亚博网站下载
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易于使用的软件易于理解
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自带自动校准的光学系统
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新型双镜头技术(DLOIOS)
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单激光技术可用于恒定散射光谱
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精确测量细颗粒范围从10纳米yabo214
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集成相机技术
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检测分离的大颗粒、气泡或结块
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更高的粗颗粒测量精度
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颗粒形状和粒度分析是由一个单一的设备进行的
完整的颗粒尺寸和颗粒形状分析的一个设备
Bettersizer S3 Plus颗粒尺寸和形状分析仪有一个特殊和新颖的设计，从而整合了不同的颗粒尺寸测量方法的好处，如“动态图像分析”和“激光衍射”。它提供了从纳米到毫米的精确和广泛的颗粒尺寸测试和颗粒形状分析的表征。
资料来源:Bettersize Instruments Ltd。
| 模型 |
Bettersizer S3 + |
| 粒度测量范围 |
0.01 -3500μm |
| 颗粒形状测量范围 |
2 - 3500μm |
| 测量方法 |
- 激光衍射:DLOIOS
- 自动成像:0.5倍镜头和10倍镜头
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| 分散系统 |
湿 |
| 折射率的测量 |
是的 |
应用程序:
- 学术界
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图片来源:Bettersize Instruments Ltd。