Polytec的TopMap Micro.View是一种紧凑型和用户友好的光学分析器。这种稳健的计量溶液是优异的性能和负担能力的组合。
通过CST连续扫描技术和扩展的100 mm Z测量范围，TopMap Micro.View在NM分辨率下量化甚至复杂地形。
TopMap Micro.View是一款简单的台式设置，包括带有智能焦点查找器的内置电子设备，简化并加速测量过程。
具有扩展功能的小占地面积
用户可以从可选的ECT环境补偿技术中受益，即使在具有挑战性和嘈杂的生产环境中，也可以确保精确和可靠的测量结果。
TopMap Micro.View是一种经济的质量控制仪器，用于检查研究中的精密工程表面以及制造领域。
强调
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3D地形，纹理和粗糙度的非接触式测量
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可以在紧凑的设置中测量表面饰面
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卓越的横向分辨率
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100毫米Z测量范围与CST连续扫描技术
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用户可以从特定于应用程序的目标中进行选择
里面的xperts！下一代光学表面计量
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topmap micro.view.
TopMap Micro.View台式光学表面分析器
CST连续扫描技术允许使用整个100 mm定位范围作为测量范围