MaxMile EpiEL晶片致发光映射系统

MaxMile EpiEL系统领导的是一个虚拟的设备制造和表征系统,可用于测量直接在epiwafers LED设备参数。没有任何昂贵和耗时的设备制造,然而,通过完成设备,不仅EpiEL揭示electro-luminescence (EL)也是材料的电气性能。

EL测量通常是执行完成设备上(如领导),因为它需要一个设备结构注入电流。MaxMile EpiEL技术克服了这一局限性立即形成一个定义良好的领导设备内部的材料。以这种独特的能力,MaxMile EpiEL光电子技术提供了一个前所未有的场致发光电解决方案(尤其是新兴固态照明)行业带来了新的能力和更好的效率。

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