JEOL提供的JEM-1400系列120 kV透射电子显微镜在高分辨率成像和分析方面得到广泛认可，以及其易用性。它被广泛应用于纳米技术、生物学、病理学、质量控制、聚合物和材料开发等领域。亚博网站下载
JEM-1400Flash于2017年推出，基于高度成功的JEM-1400(Plus)，用户可以简单地在低放大率下初步观察样品，然后在更高放大率下分析感兴趣的精细结构。
JEM-1400Flash内置高灵敏度sCMOS相机、光学显微镜(OM)图像联动功能和超广域蒙太奇系统，帮助用户从低放大到高放大平稳过渡，获得更高吞吐量的图像数据。
JEM-1400Flash中提供的TMP不仅有助于提高吞吐量，而且还导致无油柱真空，并实现瞬时样品交换。
JEM-1400Flash提供卓越的S/TEM分析性能，3D层析成像，高分辨率/高对比度成像，最新的大面积SDD探测器元素映射，蒙太奇和低温显微镜。
JEM-1400Flash是一款紧凑和用户友好的TEM，支持可选的STEM数字成像/扫描电路，并在标准GUI上提供STEM图像(BF/DF)。
下面将介绍JEM-1400Flash的一些新特性。
高灵敏度sCMOS相机，“Matataki闪光”相机
JEOL的新型高灵敏度sCMOS相机，称为“Matataki Flash”，极大地减少了读出噪音，同时具有高帧率。这种强大的特性使得高质量的TEM图像能够以高通量和极低的噪声获得。
无限全景超广域蒙太奇系统(LLP)
除了传统的电磁图像移位，JEM-1400Flash还集成了一个蒙太奇系统，可以使用舞台驱动来移动视野。这种新颖的系统能够在无限广阔的区域内捕捉到蒙太奇全景图像。
因此，在网格大小的蒙太奇情况下，可以获得一个高像素分辨率和超宽区域的图像，并用于在整个网格上导航。“无限全景”选项有助于获得无限数量的帧。
图片叠加(OM图像联动功能)
在相关光学和电子显微镜(CLEM)工作流程的情况下，可以将OM获得的数字图像覆盖在TEM图像上。该方法能够将从荧光显微镜获得的时空信息与从TEM获得的高分辨率结构数据相结合。
因此，CLEM从细胞和结构生物学中桥接的信息可以扩展到高分辨率标记的综合使用，从而更准确地靶向相关荧光位点。
新的用户界面
除了新的外观，新设计还用于(1)带有oled按钮的旋钮，可由用户定义，便于查看工作，(2)触摸屏，便于直观操作，(3)新的图形用户界面。新的JEM-1400Flash完全兼容SPA和断层摄影工作流程的SerialEM。
关键特性
-
简化的GUI，包括一个多点触控屏幕，最终易用性
-
紧凑的足迹
-
倾斜+/−70°，支持双轴断层扫描
-
数据查看和远程操作协作
-
改进的高对比度成像材料科学，低Z，和生物应用亚博网站下载亚博老虎机网登录
-
TMP与瞬时样品交换
-
几个点的自动断层扫描
-
可提供大面积sd - eds和STEM技术
-
无限全景超广域蒙太奇
-
体制排放标准
-
5轴微动测角仪支持低温保存