JEOL公司的JSM-IT800超高分辨率场发射扫描电镜是一款突破性的FE-SEM，配备了当今最先进的高分辨率分析技术。
JEOL IT800系列为纳米尺度的高空间分辨率成像和分析提供了一个新的分析智能水平。
聪明、灵活、强大
聪明的
配备了内置的JEOL能量色散x射线(EDS)， IT800系列肖特基场发射sem简化了工作流程、效率和操作。强大的软件，超高分辨率和优雅的功能有助于获取数据，从观察到元素分析和随后的报告，以平稳的方式。
的JEOL NEOENGINE®电子束控制系统以及最新的汽车功能允许在高电流分析和高分辨率成像之间快速转换，而不会影响性能，从而导致无与伦比的易用性。
已经开发出精密的AI算法以纠正电子轨迹，实时改善电子镜片的控制，并自动对准光束，同时整流散光，焦点，对比度和亮度。通过Live EDS分析，可以在成像时直接监测样品的化学成分。
JEOL SEM顺利地合并了导航和光学成像，EDS实时分析和SEM成像，只需单击一键操作。
灵活的
JSM-IT800系列配备了一个巨大的标本室，同时容纳了广泛的探测器。这些检测器包括多种EDS、CL、BSE、STEM和WDS。JEOL独家的软x射线发射光谱仪能够并行和高效地收集极低能量的x射线，同时提供无与伦比的化学状态分析。
强大的
IT800SHL-JEOL的旗舰FE SEM具有亚纳米分辨率，提供从0.01到30 kV的加速电压范围和高达200万x的放大，允许用户实现令人难以置信的纳米结构细节以及详细的元素分析。这种用户友好和高度通用的场发射扫描电镜提供了下一个层次的分析智能的FE-SEM。
高空间分辨率
JSM-IT800采用了一种混合物镜，它集成了静电和电磁透镜以及通过透镜的电子探测系统。由于没有电磁泄漏发生在镜头下，JSM-IT800是完美的分析样品和成像磁材料与EBSD。亚博网站下载
掺入电子束的透镜减速和加速度有助于降低低kV处的镜头像差的冲击，在最低的加速电压下提供更高的分辨率。
最新的Upper Hybrid Detector (UHD)是SHL独有的，提供了特殊的信噪比和检测效率的电子释放的样品，没有任何样品偏置。
JSM-IT800使用光束减速模式，或BD模式，以减少非导电试样成像时的充电。它还可以在低kV下提高分辨率，并通过加速电压降至0.01 kV来改善表面形貌。
JEOL集成了特殊的透镜内场发射枪，可以实现高达500na的束流。该电流可以传送到样品，也可以传送到孔径角控制透镜(ACL)，从而将大量探头电流提高到最小探头直径。这些特性使该显微镜非常适合于纳米结构的分析和成像。
新的BSE探测器增加敏感性
除了固态BSE探测器(BED)，多功能多段(VBED)和闪烁体(SBED)探测器也可以从不同的检测角度改善信号选择、灵敏度和响应，并建立样品的3D图像。
JSM-IT800现场排放SEM细节
关键特性
- NeoEngine-智能自动电子束控制
- 多用途静电和电磁混合透镜设计，提供卓越的成像和分析性能
- 孔径角度控制镜头(ACL)在任何kV或探头电流提供了优越的分辨率
- 包括最新的自动功能，如柱塞，焦点和光束对齐
- 可提供透镜的透镜场发射枪
- 巨大的标本室，配备了众多的端口
- 光束减速(BD)模式降低了样品中透镜像差的影响
- 纳米结构的高空间分辨率成像和分析
- 报告生成和数据管理的微笑视图实验室
- 提供元素地图和蒙太奇图像
- 用掺入的JEOL EDS元素筛选实时分析
资源
JEOL JSM-IT800肖特基场发射扫描电子显微镜