Horiba Scientific推出了一个名为Omegascope的新型AFM光学平台。这种最新的交钥匙解决方案集成了光学和超分辨率的多距离研究AFM。
Omegascope AFM也是一种复杂的研究仪器，为科学家提供了一种专注于光子学和光谱的方法。它有反射配置，提供直接顶部和侧光接入。
OmegaScope平台的适应性为AFM成像模式与高空间分辨率光谱(荧光、光致发光和拉曼)的相关性提供了几乎无穷无尽的可能性。
特性
原子力显微镜配准激光与拉曼激发激光无干扰
1300 nm AFM激光器不干涉最著名的可见光、紫外和近红外拉曼激发激光器(364至830 nm)，并消除任何寄生效应对VIS光敏生物和光伏样品。
直接(在目标下面)路径到悬臂
omegascope系统包括完全分离的光学和AFM通道。这种独立性不限制拉曼激光所需的波长，并且相反，与通过与拉曼激励激光器相同的高孔径物镜的系统相比，其相反，整体系统的调节相反。
用户可以简单地重新聚焦高孔径目标，而无需进一步重新调整AFM激光到悬臂安装。此外，omegascope的设计确保对任何声学噪声和振动的敏感性较小，并提供相对较高的AFM稳定性。
简单，快速和可重复的悬臂调整
由于固定的AFM激光设计，激励激光可以像以前一样快速和容易地调整悬臂尖端。此外，一旦安装了相同类型的新悬臂，用户样品表面上的相同点(几微米内的重复性)可以很容易地找到并扫描，而无需任何额外的搜索步骤。
自动AFM注册系统调整
SmartSPM扫描探头显微镜是欧米斯卡普斯系统的反射配置的核心，也是第一款具有从划痕开发的电动/自动激光悬臂 - 光电二极管对准的SPM，以便与Horiba光谱仪结合。
快速扫描
- 扫描器的共振频率在XY区为>7 kHz，在Z区为>15 kHz，目前在AFM区最高
- 通过优化的扫描控制算法，扫描速度比以前快得多
具有高谐振频率的振动稳定性，声学稳定性和快速扫描仪
低漂移，快速响应时间，计量溯源。业界最好的基于柔性的闭环扫描仪，具有100 x 100 x 15微米的扫描范围，可以测量大量区域，同时提供真正的分子分辨率成像。
扫描仪的高机械刚度和整个AFM都是欧米齐的优异性能的一体，防止有效振动保护。
这种特殊的属性也使用户能够实现独特的、更复杂的扫描算法，如Top模式。在这种模式下，探头在扫描点之间被提升到样品表面以上。
在每次扫描点中，探头都返回到表面。一旦尖端振荡幅度接近设定阈值，就量化扫描信号。这使得可以防止任何横向力相互作用，并且例如，确保探针，但同时有助于将扫描速率保持高达1 Hz。
易于样品更换
OmegaScope AFM平台的设计使用户能够使用悬臂支架和AFM头来更改样品。它实际上提高了实验的可靠性，并在执行常规操作时保护系统不受潜在的操作员错误的影响。
顶部和侧面光学访问
顶部和侧面光学访问尖端样品区域允许用户使用VIS、IR和UV高NA平面消色差物镜(侧物镜:高达0.7 NA;顶级物镜:最高可达0.7 NA)，允许在宽光谱范围和最小激发激光光斑区域共聚焦检测样品表面的光学信号。
正确设计的OmegaScope系统的侧光通道在成功的TEPL和TERS实验中起着至关重要的作用，因为它提供了一个相对可观的光场Z分量，并有效地触发尖端-样品结中的等离子体共振。
顶部和侧面目标扫描器
为了优化拉曼激光束和AFM尖端的对齐，柔性导向的闭环XYZ目标扫描仪可以安装在底部、侧面和顶部通道中。此外，这种解决方案提供了长期的稳定性、校准自动化和最高的分辨率，此外，在光输入/输出系统中使用少量的光学元件，可以扩大光谱范围，从而减少有用的光信号的损耗。
内置DFM测量与锁相环
动态力显微镜（DFM）模式可用作omegascope系统的标准选项。对于此模式，通过使用集成到AIST-NT控制器中的锁相环（PLL）电路来开发频率调制（FM）检测器。
通过DFM，用户可以可靠地维持最小的针尖-样品交互作用(即在引力作用下的操作)，这似乎对成功的扫描近场光学显微镜(SNOM)和TERS实验非常重要。
STM，导电AFM和SNOM选项
同时具有光谱测量，可以使用特殊模块配备，用户可以通过该模块，用户可以在三个线性范围内量化STM或AFM中的局部电流（1NA，100na和10μA）。可以在软件内更改这样的范围，其中每个可以从100Hz到7 kHz中选择所需的带宽。
在高达1NA和1300nm激光器的测量范围内的导电模块噪声水平为60 fa和1300nm激光器只是在光伏电镜头领域的电导率测量的新基准。
除了OmegaScope AFM平台的极佳灵活性外，基于音叉反馈设计的SNOM选项也可以轻松整合。除了典型的SNOM实验外，用户还可以遵循纳米光学的经典，特别是无孔径SNOM，使用一个近场荧光成像系统，使用一个由合适偏振的飞秒激光脉冲照亮的金属尖端。