CX-200plus是一个全尺寸的楼层模型扫描电子显微镜（SEM），以非常有吸引力的价格提供高分辨率的成像功能。CX-200plus包括SE和BSE成像探测器以及内部腔室视镜相机，便于舞台倾斜和高度调节。
可用于CX-200plus的众多分析选项，包括EDS和WDS元素微分析;EBSD微结构晶体分析;和Cl（阴极致发光）内部结构分析。通过我们的EDS合作伙伴可以提供特征和粒子的自动分析功能。yabo214
CX-200plus的独特功能是我们的“全景”模式，允许通过在更高的放大率下控制电动级并自动从几到数千个平铺图像中收集大图像的电动阶段来收集大型样本的高分辨率图像。这种能力如果为半导体和电子组件的详细检查或计量等应用以及生产可以用高清晰度的海报或壁尺寸印刷的应用非常有用。
主要规格
- 分辨率高达3 nm
- 紧凑且稳健的性能
- 全景模式标准
- 标准BSE，SE探测器
- 混合信号
- 标准室范围
- 10个用于第三方分析工具的端口
- EDS完全兼容
Nano-Station 4.0（Coxem SEM专用软件）
NS 4.0软件为Coxem SEM的操作提供了最舒适和最直观的用户界面（UI）。该软件具有验发的SEM用户需要与简单的界面相结合，允许新手用户快速掌握。
此外，全景射击功能通过启用图像的优选部分的自动捕获，避免在直接控制相机的同时直接控制相机的用户造成的不便，以及长时间移动和拍摄。并且通过利用双显示模式，操作员可以查看SE或BSE探测器，或两者的复合图像。
