Hitachi TM4000 II Benchtop SEM

轻松图像并在几分钟内分析任何样本

来自Hitachi的新型TM4000 II台式SEM为任何用户提供先进的电子显微镜，简便。通过最小的样品制备时间实现高分辨率，高对比度，大量焦点成像，以及化学元素分布的快速鉴定。

关键能力

• 高分辨率成像，放大率为25倍至250,000倍
• 使用探头电流控制和电压控制（最高20kV）快速优化结果
• 观察与专用二级电子（SE）检测器的清晰地形对比
• 用反向散射电子（BSE）检测器快速识别标本中的组成变化
• 通过单击切换真空模式消除电绝缘样本上的充电问题
• 通过大型舞台和腔室（直径高达80毫米和50mm高度，高度为50mm），检查大或多个样本
• 使用集成的导航相机和电动级快速导航样品^*
• 通过X射线微分析（EDX）能力（选项）来获得更深的化学洞察，包括快速映射^*
• 使用多场采集和自动粒子和相位分析的选项自动化您的显微镜和数据分析^*
• 直接在SEM中获得定量表面计量数据^*
• 添加高级检测能力，如茎或阴极发光^*
• 使用拉伸或压缩，加热，冷却，电探测和纳米凸化子级地原位观察原位的动态实验^*

^{* 选项}

灵活的成像变得简单

TM4000在其心脏上保持可用性和时间，但这并不是为了牺牲真正了解样本所需的灵活性。在没有先前样品制备的情况下，在导电和绝缘样品中选择SE（表面对比）和BSE（组成对比）。SE和BSE探测器都可以同时（单独或混合）以及低真空模式观察。选择适当的探头电流和加速电压的能力有助于确保最佳效果。

剩下：化学对比（BSE）中间：地形（SE）对：混合SE / BSE图像

快速导航

用完全集成的光学导航摄像机快速找到您的样本。轻松覆盖并关联您的SEM和光学图像，以便您确切知道您的位置以及您在始终完成的内容。

左侧示出了手表内部的SE图像，右下方显示了从已成像的区域的带有覆盖的SEM图像的光学图像

高级元素分析的高性能EDS

来自牛津仪器或Bruker等领先供应商的集成X射线微发射（EDS）系统可确保快速准确的元素分析，并在其他台式SEM上找不到先进的功能。Live Peak Deconvolulate可确保去除谱线重叠以提供真正的元素分布并避免意外误解。

通过使用峰值去卷积在右侧的光谱中与W和Si峰值的线重叠，可以看到哪个谷物实际上包含w

自动化粒子，纤维或化学分析

通过添加我们的强大模块来改善您的统计数据并消除耗时的工作，以自动化粒子，光纤或矩阵分析（通常仅用全尺寸SEM相关的功能）。在TM4000中完全自动采集和分析使得能够快速表征，即使超过数千个或数百万个特征的尺寸，形态和化学成分。这种能力在特征材料中可能是关键的，包括：亚博网站下载

• 电纺纤维
• 添加剂制造的金属粉末
• 技术清洁度（至VDA19 / ISO16232标准）
• 钢清洁度（对ISO4967标准）
• 石棉分析（到VDI 3492 / ISO14966标准）
• 矿物相鉴定，解放和表征

剩下：自动粒子检测对：粒度分布

矿物粒子鉴定和使用Bruker Amics的表征
剩下：BSE镜像中间：鉴定的粒子yabo214对：矿物分类

自动纤维厚度测量

自动检查广域

用于全自动化广域采集和拼接的模块（包括成像和化学分析）意味着即使在大长度尺度上也可以获得所需的所有高分辨率数据。

地质薄部分缝合使用3x3图像覆盖6x5 mm区域

定量表面计量

通过集成，无倾斜的3D表面建模和计量了解您的材料表面。测量表面参数，如深度，角度或粗糙度，包括ISO 25178中描述的3D表面纹理。

3d磨损的金属表面的表面粗糙度

阴极发光探测器

综合的阴极发光检测器可以检测从一系列半导体，地质和药物材料发射的光，响应于电子束照射。亚博网站下载这可以是在制药样品中定位活性药物成分（API）或进行包括晶体区间分区和生长历史的地质研究的强大工具。

样本：碱性粒度的Syenite，碱性长石分区
剩下：CL图像中间：BSE镜像对：混合CL和BSE
CA和NA内容的小变化创建了CL对比度，在BSE图像中几乎不可见

SE，BSE和CL图像的药物粉末

扫描透射电子显微镜（Stew）

与传统的SEM和TEM相比，电子透明样品如生物切片或纳米颗粒可以用高对比度和令人惊讶的缓解成像。yabo214例如，TM4000可用于在全温度检查之前进行样品筛选，聚合物中颜料的高通量成像，或用于石墨烯片尺寸分析。

鼠标肾脏	小鼠肝脏

原位测试

有许多选项和配件可以在TM4000中启用原位实验。原位阶段用于倾斜，旋转，样品操纵，电探测，拉伸或压缩测试，疲劳试验，纳米凸缘，加热，冷却等

在SEM中的拉伸测试的例子，在这种情况下是皮革样品。
视频显示了简名的拉伸测试选项