TESCAN AMBER X是分析等离子体FIB和超高分辨率(UHR) SEM解决方案，用于提供样品的材料表征，这些样品已被证明对典型的Ga FIB和FE-SEM仪器具有挑战性。亚博网站下载
TESCAN AMBER X将Xe等离子体FIB与BrightBeam™SEM光学配对，提供高通量、大面积离子铣削和无场超高分辨率成像，用于最广泛的常规和新型材料的2D和3D多模态表征。亚博网站下载通过TESCAN AMBER X，您可以满足您今天的材料调查需求，并为您未来亚博网站下载的需求做好准备。
TESCAN AMBER X的等离子体FIB能够快速铣削大截面，最大可达1毫米，以及用于样品制备的常规铣削和抛光。Xe等离子体束产生的损伤最小，且不会因注入而引入污染。氙离子的惰性性质意味着可以实现对像铝这样的材料的无污染的微样品制备，而没有镓离子注入可能改变微结构或机械性能的风险，而这种风险发生在传统液态金属离子FIB中。亚博网站下载
柱内SE和BSE探测器优化的高质量成像在FIB-SEM重合点。TESCAN AMBER X微分析工具的专有几何结构不仅为微分析，而且为多模态FIB-SEM断层扫描提供了前所未有的分析潜力。
在TESCAN Essence™的驱动下，我们的模块化定制GUI软件，TESCAN AMBER X轻松地从一个多用户、多用途工作站转换为高吞吐量、大面积FIB铣削作业的专用工具。
关键好处
- 高吞吐量，大面积FIB铣削达1毫米
- Ga-free微量试样制备
- 超高分辨率，无场FE-SEM成像和分析
- 柱内SE和BSE检测
- 高通量，多模态FIB-SEM断层扫描点优化
- 优越的视野，便于导航
- Essence™易于使用，模块化的图形用户界面