这尺寸XR扫描探头显微镜(SPM)系统可从Bruker Nano Facess提供的纳米研究和技术进步,以提供纳米级分析中的最大能力,功能和性能。
针对Icon的极限研究(XR)系列SPMs®和FastScan.®AFM平台为纳米电化学、纳米电学和纳米力学表征的前沿研究提供独家封装解决方案。此外,SPMs使得在流体、空气、化学反应或电环境中量化材料和活性纳米级系统变得相对容易。亚博网站下载
图标®和FastScan.®平台有三个不同的Dimension XR配置,在改进的包中提供尖端的研究能力:
XR Nanomechanics
- 通过僵硬的陶瓷和金属来进行可量化的纳米尺度表征,从而柔软粘稠的水凝胶
- 允许具有最新AFM-NDMA™模式的批量DMA和纳米型技术的相关纳米力学表征
- 提供一系列模式,以彻底识别最小的结构,其空间分辨率低至聚合物链的子分子单元
XR Nanoelectrical
- 提供以前无法实现的数据与单一测量
- 提供每个像素的电子光谱与最新的DataCube模式的机械性能测量相关
- 在单一系统中涵盖最广泛的电子AFM方法
XR纳米电化学
- 在溶液中进行并发机械,电气和电化学映射
- 获得具有小于100nm的空间分辨率的电化学数据
- 允许强大的电化学AFM(EC-AFM)和基于AFM的扫描电化学显微镜(AFM-SECM)
具有最高空间分辨率的完整表征
在全球范围内,有成千上万的同行评议的科学论文,但大样本FastScan®和图标®AFM平台有助于改变材料科学和原子力显微镜的景观。亚博网站下载亚博老虎机网登录
这些传奇平台具有新颖的XR配置,可以充分利用三十年的AFM创新,以允许定制和开箱即用的尖端纳米电化学,纳米电化学和纳米力学研究。
然而,无论选择何种类型的配置和平台,用户都将受益于最新的技术发展和行业中最高的性能特性,以及任何商业可用的AFM最简单的工作流和最高的测量再现性。
维图标®是世界上使用最多的大样本AFM平台,具有卓越的性能、卓越的生产力和行业领先的应用灵活性。
- 优异的生产率,从一个样本到多个样品,自动测量配方和快速扫描无数次无人值守测量到预配置的设置
- 最高的重复性和性能,漂移和噪音最低,通过广泛的科学发现和创建新材料的广泛出版物亚博网站下载
- 通过针对一个AFM平台的小型,大或多个样本的相关方法和测量模式无与伦比的灵活性
维FastScan®平台是工业基准,完美平衡精度,分辨率,扫描速度,噪音和漂移,渲染快速扫描原子力显微镜可行的商业现实:
- 提供流体和空气中最快的扫描速率,激光和探测器的自动对准,“智能接合”,无与伦比的生产力和详细的工作流程
- 整合维数图标的所有优点®平台与图标的使用®扫描头
- 通过行业在尖端的行业最准确的力量控制的延长尖端和高分辨率
纳米机械应用的定量分析
FastScan维度XR纳米力学的配置®和图标®AFM系统提供了一套完整的能力,需要定量和快速地定义其纳米机械性能的材料,以跨越陶瓷和金属跨越柔软和粘性复合材料和水凝胶的样品。亚博网站下载
此外,XR纳米力学捆绑解决方案涵盖了纳米尺度AFM纳米力学测量方法的整个演变过程,例如布鲁克纳米表面公司(Bruker Nano - Surfaces)全新的、开创性的AFM纳米动态力学分析。这个AFM是第一个也是唯一一个与批量DMA绑定的解决方案。
革命AFM-nDMA
AFM可以提供纳米尺度在纳米级的聚合物的定量和完全粘弹性分析,在线性状态下在流变相关频率下探索材料。亚博网站下载参考频率跟踪,相漂移校正和专有的双通道检测允许在流变相关的0.1至20kHz范围内进行小的应变测量,用于直接连接到批量DMA的损耗切线,损耗模量和储存模量的纳米级测量。
独家PeakForce QNM
这种模式通常能够定量表征纳米力学特性,如变形、耗散、粘附和模量,并同时以原子尺度分辨率对样品形貌进行成像。
从Bruker纳米表面获得的频率校准探头现在允许定义的粘附和几何形状,以监测探头和样品之间的接触,在<1kPa至100 GPa的范围内的柔软和粘性材料的测量期间,在柔软和粘性材料的测量期间,在提供亚博网站下载结果高分辨率纳米尺寸。
FASTForce体积
通过这种模式,线性斜坡的工作频率延伸超过400Hz,这有助于桥接标准力量映射和PeakForce Qnm之间的频率差距。此外,操作频率的重叠使得模式之间的纳米机械相关研究能够提供更大的测量置信度,同时能够分析属性材料频率依赖性。
创新的快速卷CR
接触共振可以测量广泛的模量范围,是纳米力学测量的有力工具。但是,到目前为止,它的使用一直受到接触模式的限制,例如具有挑战性的分析,缓慢的成像速度,以及需要专门的硬件来获取全光谱。XR纳米力学解决了这些问题,提供了可靠的粘弹性和弹性特性数据。
多维纳米电子表征
FastScan尺寸XR纳电极的配置®和图标®AFM系统在单个系统中包含最全面的电气AFM方法。PeakForce KPFM™和PeakForce TUNA™已经建立了令人难以置信的扩展材料研究的出版记录,从传统的基于接触的电模式到相关的机械和电数据。亚博网站下载
Bruker Nano曲面的最新DataCube模式现在在每个像素提供多维纳米级数据,同时在单个测量中捕获机械和电性能。
专有的Datacube模式
这些模式利用FastForce卷来在每个像素中执行力距离谱,其中用户定义了停留时间。通过高数据捕获速率,在停留时间期间执行一系列电测量,导致每个像素处的机械和电光谱。通过Datacube模式,在单一的实验中实现了完整的表征,这在市售的AFM中是不可能的。
技术 |
Cond-uctivity. |
阻抗 |
载体密度 |
压电 |
本地EC活动 |
潜在/领域 |
datacube模式 |
dcube-tuna. dcube-cafm. DCUBE-SSRM |
DCUBE-sMIM |
DCUBE-SCM DCUBE-sMIM DCUBE-SSRM |
dcube-pfm. DCube-CR-PFM |
DCUBE-SECM |
DCUBE-EFM |
Peakforce Tapping(PF) |
PF-TUNA |
PF-SMIM |
PF-SMIM |
|
PF-SECM |
PF-KPFM. |
开发模式 |
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sm |
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|
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EFM kpfm. |
联系方式 |
金枪鱼 C-AFM SSRM. |
sm |
供应链管理 sm SSRM. |
烤瓷 |
SECM |
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最高分辨率扫描电化学成像
用于快速扫描的尺寸XR纳米电化学(NanoEC)的配置®和图标®AFM系统为实时提供了一种用于定量检查电化学反应的交钥匙解决方案。该系统利用Peailforce Secm™和EC-AFM模式来在电化学电池中扫描原位地形扫描。它们特别为在挥发性溶剂和电化学控制下的长期原位电极分析。
独家peakforce sec
该模式具有少于100nm的空间分辨率,重新定义了液体中化学和电气过程的纳米级可视化中可行的可行性。
Peakforce SECM™通过级别的秩序大大提高了传统技术的解决功率。这促进了对生物传感器,腐蚀科学和能量存储系统的全新研究,为单个纳米孔,纳米粒子和纳米粒子进行了新的测量方式。yabo214亚博老虎机网登录Peailforce Secm™是唯一提供具有纳米级横向分辨率的电化学,地形,机械和电气图的并发捕获模式。
由Bruker Nano Faceaces获得的预先安装的Peakforce SecM™探针提供安全且易于处理,并且改进的支架为敏感信号处理提供电稳定的设计。已经说明了高度稳定的探针的性能超过10小时的EC测试和许多重用清洁循环。
无限的灵活性扩展研究
用户为他们的研究选择的任何Dimension XR配置都允许添加其他一些菜单功能,以进一步定制系统,以满足他们现在和将来的实际应用需求。与Bruker的各种专有AFM方法、模式和模式改进一起,Dimension XR系统提供了独特的能力,可以将纳米尺度的研究提升到一个全新的水平。
更多模式,提高生产力
- 联系方式
- Peakforce Tapp.®
- PhaseImaging™
- 扫描器®
- tappingMode™
- AFM-NDMA™
- 接触共振(FFV-CR)
- Fast-Force卷(FFV)
- 力调制™(FMM)
- HarmoniX®
- 横向力显微镜
- 纳米缩进
- PeakForce QNM®
黑暗升降机
- Datacubes:
- DCUBE-SSRM
- DCUBE-SCM
- DCUBE-sMIM
- dcube-pfm.
- DCube-CR-PFM
- dcube-tuna.
静电力(EFM)
- LiftMode™
- 磁力(MFM)
- PeakForce KPFM™
- peakforce smim™
- peakforce ssrm™
- peakforce tuna™
- 压电响应(PFM)
- 扫描电容(SCM)
- 扫描扩散阻力(SSRM)
- STM.
- AFM-SECM(PF-SECM)
- 电化学(EC-AFM)
维度XR配置
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XR Nanomechanics |
XR Nanoelectrical |
XR NanoEC |
纳米力学能力 |
AFM NanoDMA(0.1 - 300 Hz) |
• |
ο |
ο |
rampscripting. |
• |
ο |
ο |
MIROView |
• |
ο |
ο |
Nanoelectrical功能 |
PeakForce金枪鱼(CAFM) |
ο |
• |
ο |
Datacube金枪鱼 |
ο |
• |
ο |
PeakForce KPFM |
ο |
• |
ο |
黑暗升降机 |
ο |
• |
ο |
液体电金枪鱼 |
ο |
• |
ο |
纳米电化学能力 |
Peakforce Secm /电化学 |
ο |
ο |
• |
datacube sec |
ο |
ο |
• |
其他特性 |
icon fast包 |
• |
• |
• |
SAMV. |
• |
• |
• |
备注:标准•可选
维度XR规格
|
图标扫描头 |
FastScan扫描头 |
X-Y扫描范围(微米) |
≥90 x 90 |
≥35x 35. |
Z范围(μm) |
≥12 |
≥3 |
垂直噪声地板 - RMS / ADEV(PM) |
≤30/25,高度在适当的环境中,典型的成像BW(≤625Hz) |
≤40/ 32,传感器在适当的环境中(≤625kHz) |
x - y位置噪声 - RMS / ADEV,闭环(PM) |
≤125/ 100. |
≤145/116 |
Z传感器噪声 - RMS / ADEV(PM) |
≤20/ 15典型的成像BW(≤625Hz) |
系统漂移 |
<200 pm / min |
样本大小/持有人 |
210 mm真空吸管对于直径≤210mm的样品,厚度≤15毫米 |
机动位置 |
可检测面积150 × 180 mm,手动旋转卡盘; 2 μm重复性,单向;3 μm重复性,双向 |
光学 |
自动对焦和数字变焦; <1μm分辨率; 180至1465μm观看区域 |
自动对焦和数字变焦; <1μm分辨率; 130至1040μm观察区域 |
EH&S. |
CE认证 |
尺寸XR扫描探头显微镜:具有AFM与NanoDMA
DCUBE-PFM测量清楚地显示了BiFeO3薄膜上每个离散像素在不同电位水平上的畴翻转。
(a)探头的SEM图像;(b)以20mV / s的扫描速率为50连续扫描选自50次连续扫描的第1,25和第50个CV;(c)10 mm的COMSOL模拟[Ru(NH3)6] 3+型材;(d)在-0.1V与AGQRE,ILLET放大倍数为70至120分钟的2小时安培测量试验;(e)模拟(虚线)和实验(实线)接近曲线。C和e图片由C. Xiang和Y. Chen,Caltech提供。
开放式硬件自定义,仅限于用户的想象,适应大多数环境,并在商业AFM中实现最高的性能。
MATLAB和Python的软件工具箱,以及自定义编程工具,提供了特殊的灵活性,同时在多用户环境中保持易用性。