Bruker Axs推出了最新的Atlas™测角仪D8发现加x射线衍射的解决方案。测角仪提供了无与伦比的角度和波束定位精度。
特别要求的应用可以在强度，形状和峰值位置方面受益于更可靠和准确的数据质量。可选的非共面检测器臂能够高度精确的平面内放牧发生率衍射（IPGID）的样品特性，平行于外表面和表面敏感研究的样品特征。
ATLAS™测筒仪包括巧妙的力学，当与Bruker的新型自动扭矩控制（ATC）集成时，增加较重成分的运动精度，同时降低机械磨损。
Bruker D8发现加
D8 DISCOVER Plus的主要好处
atlas™测筒仪
- 专用空间精度提供了梁定位的最大稳定性
- 行业领先的角度精度：在NIST SRM 1976上建立的整个角度范围内确保±0.007°2θ
- D8系列组件，如样品级，定位摄像机，光学和非环境和探测器技术，可以轻松集成
Non-Coplanar检测器的手臂
- 专利ATC和直接角编码器，最大精度
- 用于分析超薄层以及面内样本特性的第三筒轴轴
- 用于灵活配置的光束路径的高度精确安装轨道
- 自动距离检测，实时校准探测器
多功能样品处理
力量的D8发现加可以配备各种样品阶段以匹配特定的应用需求，从应力/质地和晶片映射跨越定期粉末衍射和结晶孔板的筛选。所有样品级均配备了刺刀安装座，可实现对齐和快速交换。
紧凑UMCPlus 80
- 可用于映射测量2“-4”的晶片
- 包括XRPD的Rapid Spinner
- 特点五位置样品更换与51毫米直径的样品
紧凑UMCPlus 150
- 可用于映射测量6“-8”的晶片
- 功能电动和真空送晶片卡盘和倾斜阶段
- 包括反射模式96孔板
中心欧拉·摇篮
- 可用于映射测量2“-4”晶片的晶片
- 可以实现超过90°的压力和质地倾斜
广泛的组件的兼容性
先进的x射线源
- 采用第二代光学系统的IμS微聚焦光源，不需要水冷却，产生优良的点束
- 高强度，低维护使用新技术来源
- TXS-HE提供6 kW / mm的最大功率密度2与Snap-Lock和按钮光学选项
有效的检测技术
- Eiger2 R 500K提供了超过500k的最佳尺寸像素，具有适用于材料研究应用的超高动态范围亚博网站下载
- 专有的Lynxeye探测器系列提供出色的能量分辨率，可产生显着的峰 - 背景和荧光的过滤
- 无与伦比的系统集成与DIFFRAC的完全支持。套件PLAN.MEASURE.ANALYZE工作流
D8发现Bruker的加上高性能X射线衍射
图1所示。共面测量几何中的D8 DISCOVER Plus