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不同样品温度下的光学表面测量

FRT MicroProf®TL能够表征样品在热载荷下的垂直和侧向变形。与MicroProf的其他模型不同®系列中,“TL”配备了FRT的热单元-一个内置的加热和冷却板-和可选的MicroDAC®由CWM提供的二维变形传感器。

使用热单元,可以确定模块在“真实条件”下的行为,或者可以复制热负荷下的工艺步骤。

如果需要,热单元也可以集成到MicroProf的其他设备中®系列。

突出了

  • 可编程温度控制从−80°C至400°C
  • 不同样品温度下的光学表面计量
  • 加热和冷却速度快
  • 完全自动化的
  • 温度稳定性<1°C

不同样品温度下的光学表面测量

MicroProf®TL
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