ULTIM极端超高分辨率SEM

这Ultim®Eight.在SEM中为EDS提供最佳的空间分辨率和低能量性能。与传统的大型SDD相比，优化几何和传感器设计的极端电子和无窗设计的集成高达15倍的灵敏度。

• 在低于2 kV Todeliver Sub-10 NM空间分辨率的精力下工作，散装样本检测和Li X射线的映射
• 结合浸没光学元件，收集高度灵敏度数据，最多30 kV没有任何折衷
• 亚博网站下载Sub-1 KV的材料表征

概述

Ultim Extreme Silicon漂移探测器是超高分辨率Feg-SEM应用的革命性解决方案，并提供比传统微型和纳米分析所提供的更好的解决方案。

Ultim Extreme是一个无窗口100毫米²Ultim的版本旨在提高空间分辨率和敏感性。它采用激进的几何形状来优化成像，以及在超高分辨率Feg-SEM中的EDS性能，同时在短工作距离和低kV时工作。随着ULTim Extreme的使用，EDS分辨率达到了SEM的分辨率。

特征

• SEM-EDS的最佳空间分辨率
  • FEG-SEM中的SUB-10 NM元素表征
• 最准确和最快的纳米表征
  • 快速收集，来自批量样本的实时数据处理
• 表面科学敏感性亚博老虎机网登录
  • 在SEM中的表征曲面
• 最大光电元素灵敏度
  • 氮，锂和氧等元素的新可检测水平
• 在最低kV处的材料的分化亚博网站下载
  • 亚博网站下载物料表征下降至1 kV