的C-Swift是牛津仪器纳米分析公司CMOS探测器系列的最新成员。它被设计用于常规材料分析以及高通量样品表征。亚博网站下载
C-Swift受益于许多使Symmetry成为革命性EBSD检测器的特性，当然包括为EBSD设计的定制CMOS传感器。
- 对低能量和低电流分析具有极高的灵敏度
- 保证索引速度1000pps
- 失真免费图片
- 622 x 512像素EBSPs, 250 pps
- 创新的光纤透镜系统提供了前所未有的探测器灵敏度
概述
C-Swift是一种优秀的、高通量EBSD检测器。与Symmetry探测器非常相似，C-Swift采用了定制的CMOS传感器，以提供速度和灵敏度，因此即使在最困难的材料上也能保证高质量的结果。亚博网站下载
C-Swift提供的最大速度为1000 pps，具有156 x 128像素的出色模式分辨率。与以类似速度运行的可比较的基于ccd的检测器所使用的像素数相比，这代表了4倍的像素数，从而保证了对所有类型的样本的可靠索引和高命中率。
当与AZtec软件中的稳健索引算法相结合时，无畸变光学允许C-Swift提供低于0.05°的特殊角度精度。在需要更高质量模式的应用中，C-Swift具有以高达250 pps的速度收集622 x 512像素模式的能力，使其最适合复杂的多相样品以及详细的相位分析。
该检测器已被开发用于有效和快速的样品表征。从专业的近距离传感器到可选的集成林场探测器，该系统的每个组件都经过了开发，以提高性能和易用性，并使EBSD成为每个实验室的标准工具。
特性
C-Swift探测器设定了一个新的标准，速度是关键:
- 确保分度速度1000 pps只有12 nA束电流
- 低失真光学，角度精度优于0.05°
- 156 x 128像素模式分辨率在最高速度- 4倍多的像素相比，快速CCD探测器在相当的速度
- 无缝EDS集成，即使在最快的速度
- 全分辨率(622 x 512)模式-完美的详细相位和变形分析
- 专门的近距离传感器，检测潜在的碰撞发生前，并自动移动探测器到安全的位置
- 高灵敏度与优化的荧光屏，从而保证高质量的模式在低光束能量和低剂量-导致最大的空间分辨率
- 波纹管式SEM界面，保持显微镜的真空完整性
- 五个可选的集成森林探测器，提供全彩色互补通道对比度和原子数对比度图像
- 简单直观的检测器设置，保证每次都有最佳效果