表面检测探针

的表面检测探针从ETher NDE提供卓越的低频性能与广泛的频率范围，提供聚焦穿透无数层材料。

表面检测探针:亚表面探针

ETher NDE的一些关键特性井下ID检测探头包括:

• 集成四路Lemo连接器
• 直角探头本质上是平衡的
• 内置的平衡线圈

表面检测探头:平面探头

ETher NDE的一些关键特性平面ID检测探头包括:

• 低调
• 1.5米一体电缆
• 内置的负载

好处

• 广泛的频率范围
• 特殊的低频性能

应用程序

地下ID探针:反射亚表面探头。亚表面腐蚀和缺陷的一般检查该探头具有优越的深度穿透能力，适用于多层检测。

表面平滑ID探针:绝对金属分选和一般表面探头-低轮廓，因此，完美的地区，难以检查。