这M4龙卷风是一种桌面μ-XRF光谱仪，用于分析各种样品，特别是对于具有不规则形状和粗糙表面的非均匀甚至样品。大型样品室可容纳各种样品尺寸。该系统可以用于真空模式 - 用于检测光元素 - 或环境空气中的检测。
用于高空间分辨率的最小斑点尺寸
M4龙卷风通过入射X射线束的准直实现最小的光斑尺寸。先进的多百葡萄球光学器件可以产生低至25μm的斑点。
涡轮防护阶段
涡轮型X-Y-Z阶段支持分析“在飞行”，而是在阶段运动时测量。定义斑点，线条和测量区域与具有可变放大率的双视频显微镜辅助。该系统还用于样本图像记录。
最多两个管，用于柔性刺激
使用多达两个具有不同目标材料的管允许将仪器改编为特殊的分析任务，并提高所选元素组的测量灵敏度或速度亚博网站下载。另外，6个滤波器可用于过滤主要辐射。
具有XFlash的最高检测效率®SDDS
M4龙卷风配备了最新的Xflash®硅漂移探测器技术，提供比135 EV的最高计数率能力和能量分辨率（可选地优于125 eV）。这是保证最佳的峰值分辨率和最短的测量时间。
多探测器系统
最多三个xflash®可以同时安装探测器。这进一步提高了分析速度。由于探测器以一定角度安装，这也降低了由样品形貌引起的遮蔽效果，并有助于识别衍射峰。
M-Quant用于准确的无标准分析
M4的ESPRIT软件套件使用基于特殊的基于基础参数的模型，以准确定量测量光谱。
EasyLoad用于快速示例交换
M4龙卷风配有电动样品室门，按按钮打开。样品阶段同时自动移动到前部，其中可以容易地更换样品而无需进入腔室。