表面的化学形成通常用二次离子质谱（SIMS）来监测，它能定位和识别微量元素。这一过程必须使用非常敏感和高分辨率的设备进行。SIMS有很多应用，例如；识别表面污染物，保证生产材料和设备的表面质量，并在原子水平上调查制造过程中可能存在的许多缺陷。app亚博体育亚博网站下载
Extrel提供MAX和MAX-LT™ 质谱仪系统，具有理想的质量用于模拟离子质谱仪。首先，MAX系统是目前性能最好的四极分析器，在监测表面和深度剖面时提供极高的精度。其次，最大-最小系统是最具成本效益的高性能系统。静态和动态模拟人生的能力也可以增加到现有的系统，通过使用Extrel的法兰安装质谱仪。