DLS设计用于接地到各种低温恒温器。
全系列测量模式
- 温度扫描
- 深度分析
- 频率扫描
- 捕获横截面测量
- 电导瞬态测量
- C-V表征
- 光学注射
可选的模拟或数字控制设置，以允许真实的用户友好操作
- 全电脑控制与广泛的软件支持，完整的库数据库，用于准确污染识别
- 通过I-V，C-V样品质量测试
DLS-1000.
这DLS-1000.是一种增强，高灵敏度的系统。与其前身相比，DLS-83D，它敏感的八倍。
该系统提供了完全自动测量模式，以及对测量数据的完全解释，包括杂质识别和浓度测定，而无需任何对用户交互。
深度瞬态光谱（DLTS）是用于监测和表征深层的最佳方法，造成故意或意外地引入半导体材料和整个设备中的杂质和缺陷。亚博网站下载
功能和系统规格
- 最大灵敏度（2×108原子/ cm3.）检测痕量污染
- 接口到各种低温恒温器
- 广泛的测量模式：
- 温度扫描
- 深度分析
- 频率扫描
- 光学注射
- C-V表征
- 捕获横截面测量
- 电导瞬态测量
- 由模拟和数字设置控制，以允许操作缓解
- 通过I-V，C-V样品质量测试
- 完整的计算机控制，具有宽范围的软件支持，完整的库数据库，用于准确污染识别