新µCMM
精确测量具有极紧公差的组件
μCMM是同类中精度最高的纯光学微坐标测量系统。用户受益于触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势。组件的尺寸、位置、形状和粗糙度只需一个传感器即可测量。
光学三坐标测量机提供了几个光学三维测量的高几何精度，允许测量大部件的小表面细节，并精确确定这些单独测量的位置。
可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料、CFRP、PCD、陶瓷、硅和铬。亚博网站下载从哑光材料到抛光材料，反射元件都可以测量。亚博网站下载
简单的操作是由单按钮解决方案，自动化和人体工程学控制元素，如专门设计的控制器。空气轴承轴与线性驱动，使无磨损使用和高度准确，快速的测量。这使得μCMM也适合在生产中永久使用。
E大学:Tr: ODS,迈普= (0.8 + L/600) μm⎯EUniZ:圣:ODS,迈普= (0.15 + L/50)µm
µCMM提供
直观的可用性，为多个用户设计
可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关，包括工业中经常使用的所有材料和复合材料，从哑光到抛光或镜像组件。亚博网站下载
无磨损，高效使用
所有部件，包括动轴，都是无接触操作。空气轴承直线驱动轴，使运行无磨损和高精度，快速测量。μCMM是理想的长期使用在生产中。
密实非接触和与材料无关的测量
Alicona测量系统提供了一个表面的功能，以及一个坐标测量系统组合成一个系统。因此，您的质量保证变得更具有成本效益，更容易执行，并更有效地交付结果。
点击这里测量非常紧的公差在高精度使用的µCMM