表征小颗粒 - 纳米麦提卡SZ-100yabo214

SZ-100 Nanopartica系列灵活的分析工具,用于表征小颗粒的物理性质。yabo214

基于配置和应用,该工具可用作粒度分析仪,或用于测量分子量(MW),Zeta电位和第二病毒系数(A2)。SZ-100的常见应用包括纳米颗粒,乳液,胶体和亚微米悬浮液。yabo214

粒度分析通过动态光散射(DLS)完成。基于样本的物理性质,动态范围为0.3nm-8μm。在样品中的光,浓度和存在大,不需要的颗粒的存在程度会影响下限。yabo214上限受到样品密度的影响,因为DLS在来自Brownian Motion的所有运动中建模而不是引力沉降。

SZ-100通过测量悬浮液的ζ电位来表征颗粒表面上的电荷。yabo214将样品注入一次性电池,并测量颗粒电泳迁移率提供计算的Zeta电位。样品的Zeta电位最常被用作分散稳定性的指标。

大小Zeta电位值指定静电稳定的悬浮液将保持稳定。Zeta电位主要是作为化学物质的pH或其他变化的函数来测量,帮助配方化寿命长度的保质期开发新产品。

另一方面,识别Zeta电位为零的条件(意味着样品在等电点处)允许用户选择絮凝和分离颗粒的理想条件。yabo214

SZ-100还可用于测量聚合物,蛋白质和其他分子的分子量和第二病毒系数。用户准备具有已知浓度的多个解决方案,然后以静态光散射模式运行系统以开发DEYBE图,这导致A2和MW的计算。

特征

  • 一体化仪器中的粒度,分子量,ζ电位和第二种病毒系数
  • 广泛的粒度和浓度
  • 许多粒度测量模式,以允许用户使用小颗粒和弱散射体yabo214
  • 粒度在90°和173°处测量
  • Zeta电位和粒度的小体积细胞

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