使用静态图像分析，形态学4.提供微粒样品的详细形态学描述，允许更好地了解样品和过程。它可以用作研发的工具，以检查更具挑战性的应用。同样，它可以用于自动分析中的质量控制目的，其中需要生成和验证，用户无关的结果。
- 各种粒度（0.5μm至>1300μm）可以测量广泛的样品
- 超过20个形态学参数提供了对颗粒材料的高度详细描述，允许更加了解样品
- 标准操作程序（SOP）控制整个采样分散和数据分析提供简单，自动化操作，可用于稳健和可重复的测量值
- 自动化的“尖锐边缘”分析允许检测甚至低对比度粒子yabo214
- 先进的手动显微镜模式和重访粒子颗粒的能力支持更彻底的意外粒子检查yabo214
- 高分辨率显微镜确保为最佳图像分析数据产生高质量的粒子图像
- 集成的干粉分散单元可提供样品的可重复分散，对实现显着的结果至关重要
- 特定的示例演示配件可以测量各种样品类型，包括过滤器和悬浮液
- 高级数据探索工具允许最大的示例知识
- 21 CFR第11部分软件选项可确保监管合规性
Morphologi 4行动
自动颗粒形状和粒度分析 - Morphologi 4
自动粒子形状和粒子尺寸分析 - Morphologi 4 - 图片1
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