高性能TXRF光谱仪的超痕量元素分析。成本和时间有效的TXRF是ICP的可行替代品。
全反射x射线荧光(TXRF)光谱法长期以来一直是各种样品中痕量元素分析的首选方法。与S4 t星，用户可实现简单的TXRF全天候操作，保证数据质量。
优点包括有用的软件例程，自动QC程序，以及对检测限度的显著改进。用户还可以从样本载体和类型的灵活性中受益。
好处
- 一系列样品托盘和不同的工具，以限制污染风险和误差和加快样品制备。
- 为多个用户操作，最大容量为90个样本。
- 设计用于昼夜运转的工业日常分析
- 高灵活性可以在不同载体上直接分析多种类型的样品。
- 具有自动质量控制功能，保证仪器和数据质量。
- 使用台式TXRF光谱仪实现亚ppb范围内的最低检测限。
的样品多功能性
S4 T-STAR在各种反射载体上分析范围广泛的样品类型时提供了显著的通用性，使其优于ICP, ICP需要液体样品处于完全溶解状态。
新的食品、环境和制药法规无关紧要
- S4 T-STAR为空气、污水、土壤和水分析提供了灵活的解决方案，使健康的环境得以恢复;例如，直接测量低PPB范围的废水、废水和泥浆中的污染物，以监测环境。
- S4 T-STAR是全球化供应链中防止食品欺诈的有效工具。例如，根据世卫组织/粮农组织标准，直接分析大米中的低砷含量可以确认食品安全。
- S4 T-Star跟踪药物生产中的催化剂元件，基于即将发生的欧盟和美国药典指南，例如检测活性药物成分（API）和添加剂中的子PPM催化剂元件。
S4 T星