这Phenom Desktop SEM系统利用3D粗糙度重建应用能够产生3D图像和亚微米粗糙度测量。
3D成像有助于推断示例功能，并为更多用户提供可容易理解的图像。例如，它通常是识别来自平面2D图像的划痕，凹痕和毛刺。测量平均粗糙度（RA）和粗糙度高度（RZ）对于调节和理解生产过程至关重要。通过对数据收集应用SEM成像，可以实现更好的分辨率，而不是使用传统（间接）技术。
下载宣传册以获取更多信息
主要规格
- 直观的全自动用户界面
- 直观的用户界面，效用最高
- 快速重建
- 基于“遮蔽”技术的形状，必要的舞台倾斜