EDAX提供奥姆™分析获得并分析了电子背散射衍射（EBSD）图样。该技术可用于获得关于EBDS图案的各种信息，包括晶体取向、相分布、晶粒尺寸和形状、边界结构、微观结构、织构和材料，并且允许容易地操作和检查数据。
最终，奥姆™ 分析使EBSD数据的表征、分析和提取成为一个简单的过程，并有可能满足各种用户需求。
简单的数据可视化和分析
通过创建地图、图表和数据绘图，以及使用OIM分析单个或多个数据集，可以轻松地实现EBSD模式属性的可视化表示™ 是一个完全快速而直接的过程。任何统计分析都可以定制，并且很容易重复，以适应一系列的研究需要。
EBSD模式重新索引
不可避免地，获取的数据质量很低，这直接影响了研究结果的整体准确性。奥姆™ 分析提供了评估用户数据质量和重新索引任何低质量模式的能力，以获得最高精度的数据。
OIM公司™分析v8
EDAX最新型号OIM™ 最近更新了几个新特性的analysisv8被认为为EBSD数据分析的新标准铺平了道路。特别是，v8的这些特性包括多线程操作，它支持快速地图绘制、高亮显示和特征化计算，以及反粒度分析，它允许对非索引数据点进行特征化。
功能亮点
- 材料微观结构、统计信息或取向分布可视化的图形表示法。
- 易于使用的方法执行重复的，定制的OIM分析™ 数据
- 可以对数据进行分区、突出显示和单独分析
- 奥姆™ 批处理程序允许在单个操作中准备/分析大量数据集
- 能够评估数据质量并重新索引任何低质量的数据
- EBSD特征的三维可视化
- 奥姆™ analysisv8集成了新的特性，使用户能够更深入地了解EBSD模式的特征。